材料的熱物理性質(zhì)以及終產(chǎn)品的傳熱優(yōu)化在工業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域變得越來(lái)越重要方案。

??經(jīng)過(guò)幾十年的發(fā)展應用的選擇，閃射法已經(jīng)成為常用的用于各種固體、粉末和液體熱導(dǎo)率左右、熱擴(kuò)散系數(shù)的測(cè)量方法背景下。

薄膜熱物性在工業(yè)產(chǎn)品中正變得越來(lái)越重要，如：相變光盤(pán)介質(zhì)可靠保障、熱電材料等特點、發(fā)光二極管（LED ） ，相變存儲(chǔ)器多種、平板顯示器以及各種半導(dǎo)體將進一步。在這些工業(yè)領(lǐng)域中，特定功能沉積膜生長(zhǎng)在基底上以實(shí)現(xiàn)器件的特殊功能發展成就。由于薄膜的物理性質(zhì)與塊體材料不同成就，在許多應(yīng)用中需要專(zhuān)門(mén)測(cè)定薄膜的參數(shù)。

??基于已實(shí)現(xiàn)的激光閃射技術(shù)開展面對面，LINSEIS TF-LFA 薄膜導(dǎo)熱測(cè)試儀(Laserflash for thin films)可以測(cè)量80nm——20μm厚度薄膜的熱物理性質(zhì)系統。

1.瞬態(tài)熱反射法（后加熱前檢測(cè)（RF））:

由于薄膜材料的物理性質(zhì)與基體材料顯著不同，必需要有相應(yīng)的技術(shù)來(lái)克服傳統(tǒng)激光閃射法的不足進一步提升，即瞬態(tài)熱閃射法快速融入。

? 測(cè)量模型與傳統(tǒng)激光閃射法相同：檢測(cè)器和激光器在樣品兩側(cè)∠到y？紤]到紅外探測(cè)器測(cè)試薄膜太慢增強，因此檢測(cè)是通過(guò)熱反射方法完成的重要意義。該技術(shù)的原理是材料在加熱時(shí)，表面反射率的變化可終用于推導(dǎo)出熱性能更加廣闊。測(cè)量反射率隨時(shí)間的變化規劃，得到的數(shù)據(jù)代入包含的系數(shù)模型里面并快速計(jì)算出熱性能。

2. 時(shí)域熱反射法（前加熱前檢測(cè)（FF））:

時(shí)域熱反射技術(shù)是另一種測(cè)試薄層或薄膜熱性能（熱導(dǎo)率可以使用，熱擴(kuò)散率）的方法進入當下。測(cè)量方式的幾何構(gòu)造被稱(chēng)為“前加熱前檢測(cè)（FF）”，因?yàn)闄z測(cè)器和激光在樣品上的同一側(cè)效高化。該方法可以應(yīng)用于非透明基板上不適合使用RF技術(shù)的薄膜層新體系。

3. 瞬態(tài)熱反射法（RF）和時(shí)域熱反射法（FF）相結(jié)合:

兩種方法可以集成在一個(gè)系統(tǒng)中并實(shí)現(xiàn)兩者優(yōu)點(diǎn)的結(jié)合。