Vanta Element-S手持式XRF分析儀
經(jīng)濟(jì)實(shí)用的XRF檢測(cè)
可以對(duì)元素進(jìn)行分析深化涉外，
Vanta Element-S手持式X射線熒光（XRF）分析儀可以在數(shù)秒鐘之內(nèi)可檢測(cè)出RCRA（《資源保護(hù)及恢復(fù)法案》）中所規(guī)定的危險(xiǎn)性高含量元素體系、需優(yōu)先考慮的污染物質(zhì)，以及危險(xiǎn)金屬開展試點。
Vanta Element-S手持式X射線熒光分析儀可用于根據(jù)以下方法或規(guī)程進(jìn)行合規(guī)檢測(cè)：
- EPA 6200（美國(guó)環(huán)境保護(hù)署的方法6200）
- ISO/DIS13196（標(biāo)準(zhǔn)化組織/標(biāo)準(zhǔn)草案13196）
- 各種SOP（標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程）
- NIOSH或OSHA方法中講述的樣本過(guò)濾分析法
- 表面篩查分析法
XRF分析儀的高級(jí)特性
Vanta Element分析儀具有連通性能合理需求，有助于簡(jiǎn)化廢料金屬的回收和質(zhì)量控制過(guò)程。
準(zhǔn)確且具有重復(fù)性的結(jié)果
Vanta分析儀的電子部件
Axon技術(shù)的穩(wěn)定性和計(jì)數(shù)率
方便的數(shù)據(jù)管理
具有無(wú)線連通性能（可選配）充分發揮，可方便地將數(shù)據(jù)傳輸?shù)骄W(wǎng)絡(luò)上的文件夾中
使用奧林巴斯的科學(xué)云系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)云數(shù)據(jù)存儲(chǔ)高質量，并可實(shí)時(shí)以遠(yuǎn)程方式查看數(shù)據(jù)
直接將數(shù)據(jù)導(dǎo)出到USB驅(qū)動(dòng)盤(pán)中
用于存儲(chǔ)結(jié)果的1 GB工業(yè)用microSD卡
堅(jiān)固耐用
堅(jiān)固耐用且經(jīng)濟(jì)實(shí)用的手持式XRF分析儀
這款分析儀可用于條件惡劣的環(huán)境中，且其擁有成本較低選擇適用。
符合IP54評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)管理，具有防塵和防潮的特性
通過(guò)了墜落測(cè)試（MIL-STD-810G），可避免分析儀在墜落時(shí)受到損壞業務指導，從而減少了對(duì)分析儀進(jìn)行高成本維修的需求
經(jīng)過(guò)評(píng)定改進措施，在-10 °C到45 °C的溫度范圍內(nèi)，可以持續(xù)進(jìn)行檢測(cè)
防磨不銹鋼面板
堅(jiān)固長足發展，較厚的（50 µm）聚酰亞胺窗口可對(duì)分析儀起到保護(hù)作用
無(wú)需使用工具即可方便更換的窗口
