FRT薄膜厚度測量儀采用膜層厚度測量傳感器更加完善，非接觸測量表面膜層形式，測量范圍從10nm--250um，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體晶片支撐作用、光學鍍膜加工日漸深入、漆膜、氧化表面層測量同時。

FRT薄膜厚度測量儀

薄膜層厚測量傳感器 FTR

薄膜層厚測量傳感器FTR為的膜層測量儀器互動式宣講，通過于MicroProf型MicroGlider 型結(jié)合使用，可應(yīng)用于各種高精度的測量場合設計標準，其層厚分辨率可達1nm開展；非接觸無損測量更拓寬了其應(yīng)用場合；如光學鍍膜加工（膜層厚度發揮重要帶動作用、消光系數(shù)等參數(shù)）意向；半導(dǎo)體硅片表面膜層分析；氧化表面微細分析文化價值、漆膜等等

薄膜層厚測量傳感器FTR技術(shù)參數(shù)：

注：*----可選1um—250um