D&S SSR-ER太陽(yáng)光譜反射率儀的技術(shù)參數(shù):
定制測(cè)量頭:標(biāo)配測(cè)量頭用來(lái)測(cè)量平面樣品材料,可定制測(cè)量頭用來(lái)測(cè)量曲面材料樣品提升,如13mm直徑圓柱面發揮重要帶動作用。
分辨率:LCD顯示反射比、吸收比和透射比精確至0.001意料之外。
重復(fù)性:±0.003文化價值。
準(zhǔn)確性:±0.002,標(biāo)準(zhǔn)差約0.005置之不顧。
漂移:5分鐘預(yù)熱不斷完善,漂移小于±(1%讀數(shù)+0.003)/小時(shí)。
溫度:電子組件操作溫度60℃方便,測(cè)量頭50℃基礎上。
濕度:大80%。
標(biāo)準(zhǔn)體:提供經(jīng)過(guò)NBS計(jì)量的漫反射和鏡面反射標(biāo)準(zhǔn)板應用領域。
測(cè)量孔:測(cè)量孔直徑1英寸(25.4mm)保持競爭優勢,小樣品直徑1.1英寸(28mm),測(cè)試孔有保護(hù)樣品的墊圈發展機遇。
光源:插拔式可換鎢絲燈不容忽視。
供電:100-240VAC通用電源。
線(xiàn)纜:標(biāo)配長(zhǎng)度1.5m服務體系,可選長(zhǎng)度10m說服力。
重量:測(cè)量頭0.9kg,電子模塊1.8kg分析,透射率附件4.5kg表示。
數(shù)據(jù)輸出附件:選配,可實(shí)現(xiàn)一次測(cè)試非常激烈,輸出16種測(cè)試條件(或模式)下的太陽(yáng)光譜反射率值競爭力所在。
測(cè)試條件:共16種,分別為G173GH領域、G173BN溝通機製、AM1GH、AM1BN註入新的動力、AM1DH領先水平、AM0BN、AM2V5E雙重提升、AM1V5E戰略布局、AM15V5E、AM0V5E表現明顯更佳、L1更為一致、L2等形式、L3、L4研究與應用、L5飛躍、L6。對(duì)應(yīng)的大氣質(zhì)量(Air Mass)共4種全面協議,分別為AM0重要部署、AM1、AM1.5新的動力、AM2。
測(cè)試值:太陽(yáng)光譜反射率(反射比)發展契機,吸收比廣泛關註,透射率(配備SSR-T的前提下)。