塞貝克系數(shù)/電阻分析系統(tǒng) CTA-3S

鄭重承諾：甄選供貨商系統穩定性，保證系統(tǒng)品質(zhì)達(dá)到！

         堅決不做低價先進技術、減配培訓、低品質(zhì)的經(jīng)濟版本和精簡版等系統(tǒng)，維護(hù)國內(nèi)用戶的大利益宣講手段！
 

備注：CTA-3S系統(tǒng)顏色包括紅色和藍(lán)色重要工具，隨機發(fā)貨！

  熱電材料測試系統(tǒng)CTA-3S系統(tǒng)是在CTA-3系統(tǒng)的基礎(chǔ)上升級性能更加強大的硬件（數(shù)據(jù)采集配套設備、變壓器更優質、功率調(diào)控模塊、溫度調(diào)節(jié)器和電磁場屏蔽處理推進高水平、溫度控制方式等優(yōu)化）脫穎而出，提高了溫度場控制精度和測量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。

技術(shù)特點：

·    可控溫場下可同步測量賽貝克系數(shù)和電阻率

·    標(biāo)準(zhǔn)配置進(jìn)口高級商用吉時利（Keithley ）數(shù)采儀表生產創效，避免電路板集成數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來的干擾誤差

Keithley技術(shù)：

                100nV rms 噪音本底

                直流電壓靈敏度低至 10nV註入新的動力，基本精度為 0.002%（90天）

                7ppm DCV 可重復(fù)性領先水平，基本 1 年 DCV 準(zhǔn)確度：0.0028%

                大讀取速度范圍：2k 讀數(shù)/秒；

                溫度分辨率：0.001℃雙重提升；

                交流電壓分辨率：0.1μV

                電阻分辨率：1 μΩ

                電流分辨率：1nA

                低功耗歐姆測量模式

                弱電流電路測試功能

                偏置補償歐姆功能

                檢定低壓元件又快又準(zhǔn)確

                提高測量精度的置信度

                以低至 100μA 的源電流測量低阻抗戰略布局，減少設(shè)備自發(fā)熱

                進(jìn)行電阻測量時控制測試電壓，避免擊穿可能已形成的任何氧化物或膜

                消除會在系統(tǒng)環(huán)境中進(jìn)行低電平電阻測量時產(chǎn)生錯誤的熱效應(yīng)

                提供更精確的低電阻測量

·    標(biāo)配進(jìn)口高級商用電流源（ADCMT）表現明顯更佳，非電路板集成恒流源狀態，避免無法精準(zhǔn)輸出小電流而產(chǎn)生熱效應(yīng)和測不準(zhǔn)

·    恒流源參數(shù)：0.000-220mA；恒流設(shè)置分辨率：100nA指導；恒流穩(wěn)定性：0.008+20nA/天

·    溫度范圍：RT up to 1150℃

·    光波爐加熱技術(shù)廣泛認同，潔凈加熱不污染樣品和無揮發(fā)性，對操作者安全健康流動性；整體水路設(shè)計和鍍金處理鍛造，無水垢堵塞問題，終身免維護(hù)
·    控溫速率：0.01 –100K/min持續創新，可以節(jié)約用戶測試時間

·    配置垂直放樣結(jié)構(gòu)逐漸完善，上下樣品支架夾持（三明治），精確控制溫度差

·    測量范圍：賽貝克系數(shù)：0.5μV/K-25V/K合理需求；電阻率：0.2μOhmm-2.5KOhmm

·    0-80K溫差范圍可任意設(shè)置溫差值及溫差點的個數(shù)

·    U-I曲線自動掃描是目前主流，計算出合適的電流數(shù)值， 可以精確測量電導(dǎo)率高質量；不會對大電阻樣品產(chǎn)生誤差

·    鉑金大電極設(shè)計充分發揮，和樣品可充分接觸，對于不均勻樣品也可獲得良好的導(dǎo)電測試

·    熱電偶間距可以根據(jù)樣品尺寸調(diào)節(jié)后固定管理，滿足不同科研要求

·    精度：賽貝克系數(shù)：±7 %設計；電導(dǎo)系數(shù)：±10 %（熱電材料測試，非康銅標(biāo)樣）改進措施；

·    重復(fù)性：3%

·    高級應(yīng)用程序控溫技術(shù)就此掀開，包括溫差和測量步進(jìn)等高級要求

·    自由升/降溫、可精確控制溫度程序今年，進(jìn)行升溫穩步前行、恒溫與降溫過程中的數(shù)據(jù)測量 

·    熱電偶探針可選K、S動手能力、R型（無需鎧裝）配置逐步改善，不會產(chǎn)生非常大的接觸電阻

·    自動壓力安全保護(hù)設(shè)計，進(jìn)口美國航天級硬件配置重要的意義，確保測試過程中不會發(fā)生爆炸

·    測量系統(tǒng)：柱狀持續、片狀、長方體再獲、薄膜等系統(tǒng)