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J200飛秒激光剝蝕固體進(jìn)樣系統(tǒng)

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公司名稱 北京澳作生態(tài)儀器有限公司
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更新時間 2020/10/31 15:24:13
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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度面向；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連支撐作用，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前建設項目，消除后續(xù)工序最為突出，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴相結合。

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LA-ICP-MS 的量子級飛躍
J200LA-fs飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)是LA-ICP-MS技術(shù)向高精度提升、高準(zhǔn)確度、高靈敏度水平發(fā)展的重大突破不折不扣。J200LA-fs確保元素和同位素不分解的情況下支撐能力，均勻剝蝕樣品成透明狀資源優勢，這意味著剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學(xué)特性，這是采用長脈沖激光技術(shù)無法達(dá)到的特征更加明顯。

LA-ICP-MS 的量子級飛躍
J200LA-fs飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)是LA-ICP-MS技術(shù)向高精度估算、高準(zhǔn)確度、高靈敏度水平發(fā)展的重大突破的可能性。J200LA-fs確保元素和同位素不分解的情況下不要畏懼，均勻剝蝕樣品成透明狀，這意味著剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學(xué)特性問題，這是采用長脈沖激光技術(shù)無法達(dá)到的逐漸顯現。

減少樣品的依賴性，比霧化技術(shù)精度高
J200LA-fs系列剝蝕樣品精度高緊密相關，且沒有熱效應(yīng)更默契了。而采用長激光脈沖的系統(tǒng)，會發(fā)生的多種熱過程培訓，改變剝蝕樣品的數(shù)量和化學(xué)成分不合理波動，如改變熱特性等；并且無論采用什么波長重要工具，如266nm, 213nm 或193nm, 為了準(zhǔn)確定量的分析元素和同位素積極拓展新的領域，需要高精度的、與測量樣品相匹配的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)更優質。

J200LA-fs剝蝕均勻一致相對開放，剝蝕的樣品顆粒能代表樣品的化學(xué)特性，無需高度匹配的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)脫穎而出，也能進(jìn)行高精度拓展應用、定量LA-ICP-MS測量。

均勻一致的粒徑確保高精度結構、高靈敏度測量
長激光脈沖系統(tǒng)產(chǎn)生的樣品顆粒大（常大于數(shù)微米）集聚效應，駐留在輸送管中模式，導(dǎo)致運(yùn)輸效率低發揮作用，并且降低了分析的靈敏度大力發展。大樣品顆粒還會在ICP-MS的瞬時信號中產(chǎn)生峰值，導(dǎo)致測量精度降低表現明顯更佳。J200系統(tǒng)產(chǎn)生的樣品顆粒均勻一致狀態，且尺寸分布合理，一般在10-200nm指導，運(yùn)輸效率高廣泛認同。這些到達(dá)ICP源的顆粒能*被消解，產(chǎn)生穩(wěn)健流動性、恒定的瞬時ICP-MS信號共同努力。用戶可*依靠J200系統(tǒng)輸送高質(zhì)量的樣品顆粒到ICP-MS 系統(tǒng)行業內卷。

元素和同位素的分餾少
在LA-ICP-MS測量過程中引起元素或同位素分餾的兩大主要過程：（1）非化學(xué)計量物質(zhì)剝蝕的熱過程；（2）大樣品顆粒在ICP源不*消解逐漸完善。J200施加高能激光的時間比長脈沖系統(tǒng)短，短達(dá)1/10000合理需求。J200LA-fs系統(tǒng)通過非熱過程是目前主流，施加超高激光輻射剝蝕樣品，產(chǎn)生的顆粒能在ICP源*消解高質量，確保在測量過程中獲取高精度充分發揮、穩(wěn)定的元素或同位素信號。

高精度元素和同位素測量的保障
ASI公司的技術(shù)團(tuán)隊擁有30多年激光剝蝕技術(shù)的基礎(chǔ)研究經(jīng)驗和LA-ICP-MS方法的研究背景管理，也是世界在LA-ICP-MS系統(tǒng)中采用飛秒激光脈沖設計，并實現(xiàn)其性能的公司。J200LA-fs系統(tǒng)能完成挑戰(zhàn)性的化學(xué)分析工作改進措施。來自ASI公司嚴(yán)謹(jǐn)?shù)目蒲泻图夹g(shù)支持是其它技術(shù)無法達(dá)到的就此掀開。使用ASI公司的產(chǎn)品，意味著能直接和世界的研究團(tuán)隊交流今年，并得到專業(yè)的技術(shù)支持穩步前行。

強(qiáng)大的∫ Integra軟件與ICP-MS儀器協(xié)同操作
J200LA-fs系統(tǒng)軟件∫ Integra功能直觀、帶圖形界面動手能力，易瀏覽不同的樣品區(qū)域逐步改善，設(shè)立靈活的采樣方式。∫ Integra采用雙向通信控制提升，協(xié)同操作ICP-MS儀器達(dá)到了的水平大大提高。∫ Integra軟件讓用戶通過基本單元“處方”來制定各個硬件工作的時間序列命令集，并通過串聯(lián)多個“處方”研究成果，讓系統(tǒng)自動完成各個測量工作取得了一定進展。

硬件控制簡單、方便
∫ Integra軟件使J200LA-fs用戶簡單激發創作、方便地操作硬件部件前景。只需簡單點擊tab鍵，用戶即可檢查飛秒激光增幅最大、氣流系統(tǒng)共享應用、光模塊、3-D操作臺標準、自動高度調(diào)節(jié)傳感器示範推廣、樣品室等部件的工作狀態(tài)，不同用戶組可賦予不同的使用權(quán)限即將展開。

獲取勾邊樣品圖像大幅增加，制定復(fù)雜的激光采樣模式
∫ Integra 軟件提供大的視頻窗口特性，顯示勾邊的、詳細(xì)的樣品圖像等特點。用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式建言直達，包括光柵線狀、曲線將進一步、隨機(jī)點充分發揮、任意尺寸網(wǎng)格或預(yù)先編制的模式。即使是形狀怪異的結(jié)構(gòu)成就，采用∫ Integra的模式工具也可選定重要方式，并分析其元素或同位素。

雙照相系統(tǒng)掃描樣品
J200LA-fs 的兩個相機(jī)提供廣角和放大的樣品圖像系統。∫ Integra允許用戶先獲取樣品的廣角圖像非常重要，然后在圖像上掃視不同的位置，高倍放大選定點空間廣闊。

智能氣流控制營造一處，大限度地獲取ICP-MS等離子體的穩(wěn)定性和分析性能
∫ Integra具備智能輸送和補(bǔ)充氣控制功能，使每種氣體按預(yù)定的方式達(dá)到設(shè)定值支撐能力，同步開關(guān)確保穩(wěn)定的ICP-MS等離子體狀態(tài)資源優勢，防止等離子體火焰噴出。預(yù)設(shè)閥配置可選擇氬氣或氦氣作為載氣或緩沖氣特征更加明顯。

“處方”功能讓系統(tǒng)自動運(yùn)行
用戶可將多個硬件部件運(yùn)行命令集合估算，并按時間順序排列，形成∫ Integra“處方”的可能性。制定完成的處方基礎上，以后也可以調(diào)用。多個處方可編制成組應用領域，自動順序執(zhí)行保持競爭優勢，使測量工作高度自動化。
可簡單采用“recall”命令調(diào)用“處方”發展機遇，重復(fù)實驗長效機製，也可復(fù)制部分“處方”，結(jié)合新的命令全技術方案，完成新的采樣過程分享。

主要技術(shù)指標(biāo)

激光器	工業(yè)級高頻Ytterbium diode飛秒激光器，343 nm和1030 nm信息化，頻率可調(diào)方式之一，大10KHz
能量控制	連續(xù)可調(diào)光學(xué)衰減器，集成激光能量監(jiān)測單元
激光光閘	自動光閘保證激光能量穩(wěn)定
激光脈沖能量(激光頭輸出)	大150µJ/脈沖 @ 343 nm* 新型儲能，大 1mJ/脈沖 @ 1030 nm
激光光斑大小控制	3-70微米創新能力，結(jié)合了自動光束擴(kuò)展器和狹縫成像光斑大小范圍取決于不同設(shè)備的型號新品技，可用戶自定義光斑大小范圍
自動X-Y軸	100 mm X 100 mm 行程范圍，分辨率0.2微米
自動Z軸	35mm行程范圍求得平衡，Z軸可以實現(xiàn)樣品自動高度調(diào)整紮實做，分辨率0.5微米
剝蝕點定位	紅色激光具有更好的信號精度，ASI的自動對焦技術(shù)
樣品圖像	高分辨率的雙CMOS鏡頭領先水平，用于高倍放大和大視野預(yù)覽，支持光學(xué)變焦
樣品成像光源	泛光LED燈，同軸反射光和透明光源戰略布局，正交十字光
氣體控制	雙路數(shù)字流量控制器，可選第三個流量控制器（用于氮?dú)饣蚱渌麣怏w）電控兩向和三向閥表現明顯更佳，ASI氣體控制單元
樣品室	Flex™ 樣品室具有系列可更換的墊片狀態，適合不同大小的樣品 Vertex™樣品室具有快速沖洗效率和大量樣品的運(yùn)送能力可用戶自定義樣品固定裝置，ASILIBS測量兼容性
與ICP-MS通訊	在J200和ICP-MS之間實現(xiàn)雙向控制
LIBS檢測器 (僅適用于Tandem系統(tǒng))	Czerny Turner光譜儀 / ICCD檢測器
儀器軟件	Axiom LA系統(tǒng)操作軟件指導，ASI的TruLIBS™發(fā)射光譜數(shù)據(jù)庫（用于Tandem系統(tǒng)） Clarity Femto數(shù)據(jù)處理軟件（處理LA-ICP-MS和LIBS的數(shù)據(jù)廣泛認同，進(jìn)行定量計算/物質(zhì)分類）
激光安全等級	一級激光產(chǎn)品，樣品加載區(qū)域有光學(xué)安全隔離板流動性，激光自鎖保護(hù)裝置
系統(tǒng)尺寸	70” (長) X 26” (深) X 30” (高) [178cm(長) X 66cm(深) X 76cm(高)] (僅LA主機(jī)) 75” (長) X 26” (深) X 30” (高) [191cm(長) X 66cm(深) X 76cm(高)] (Tandem+LIBS檢測器)
重量	600 lbs [272Kg](僅LA主機(jī))鍛造；600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS檢測器)
供電要求	110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保險10A
質(zhì)保	所有硬件和軟件質(zhì)保一年，飛秒激光器質(zhì)保兩年
認(rèn)證	CE認(rèn)證
可選項	LA升級為Tandem系統(tǒng)
延保	可簽署多年質(zhì)保和服務(wù)協(xié)議

* 通常作用在樣品表面的激光能量大約是20-80 µJ

應(yīng)用案例
植物樣品表層及深層元素分布
采用飛秒LA-ICP-MS系統(tǒng)還可以對植物葉片進(jìn)行深度的剖析持續創新。測量葉片內(nèi)部不同部位的元素變化情況以及特定元素的分布情況工具。實驗使用飛秒激光器，10個脈沖喜愛，脈沖1至脈沖10表示葉片的表層至內(nèi)部重要的角色。

大米和糙米樣品外殼及內(nèi)部砷元素的分布圖譜
大米是中國、韓國和日本等東亞諸國的主要農(nóng)作物向好態勢，大米中砷元素含量超標(biāo)引發(fā)了很多食品安全問題平臺建設。食品法典委員會標(biāo)準(zhǔn)中也明確規(guī)定鉛含量不得大于0.2mg/kg ，鎘含量不得大于0.1mg/kg貢獻力量，但仍然對砷元素含量無規(guī)定使用。為了建立相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，韓國科學(xué)技術(shù)研究院搜集了韓國市場上常見的100種大米和糙米樣品發行速度，分析其中砷元素的含量及分布作為相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)制定的科學(xué)依據(jù)更加堅強。研究結(jié)果表明，砷元素主要分布在糙米和大米樣品的表面奮勇向前，并存在砷元素含量明顯的向中心遞減趨勢不斷豐富。結(jié)論：砷元素主要分布在大米和糙米的表面，打磨是降低砷元素含量的主要手段組建。