本實(shí)驗(yàn)裝置主要面向大專院校教學(xué)使用全面展示。本實(shí)驗(yàn)是用激光光束直接照射到測(cè)試表面，再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋深刻認識，以測(cè)定其離面位移的新型核心技術，*的測(cè)試技術(shù)。本實(shí)驗(yàn)裝置可以使學(xué)生了解其原理和測(cè)量的方法主動性。
   該實(shí)驗(yàn)裝置具有機(jī)構(gòu)簡(jiǎn)單創造性、精度高、靈敏性好道路、非接觸規模設備、無需暗房操作，實(shí)時(shí)顯示全場(chǎng)信息及處理信息快等優(yōu)點(diǎn)指導，故而應(yīng)用廣泛競爭力，如物體形變測(cè)量、無損測(cè)量進一步完善、震動(dòng)測(cè)量等集聚。

CCD攝像機(jī)（帶電源）狀況、氦氖激光器、圖象采集卡機製、圖象處理軟件全過程、精密調(diào)整架、分束鏡探討、擴(kuò)束鏡不負眾望、準(zhǔn)直鏡、聚焦透鏡調解製度、平面反射鏡精準調控、偏振片、被測(cè)物品等