XGT-1000WR熒光光譜儀樣品檢測(cè)倉(cāng)大、無(wú)需更換濾光片（濾波片）智慧與合力、無(wú)需樣品形狀的預(yù)處理喜愛；厚度自動(dòng)修正；CL元素自動(dòng)修正：同軸CCD技術(shù)開放要求；X射線零外溢向好態勢；隨機(jī)攜帶12塊標(biāo)準(zhǔn)樣；新增金屬鍍層測(cè)厚功能服務機製。

產(chǎn)品介紹

HORIBA X射線熒光光譜儀

XGT-1000WR熒光光譜儀主要技術(shù)指標(biāo)：

              1貢獻力量、 分析元素：Si～U（Cd/Pb高精度型）；Na～U（任選：φ1.2 mm/φ0.1 mm切換方式型）

              2大幅拓展、 檢測(cè)精度：Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm

              3發行速度、 檢測(cè)倉(cāng)內(nèi)部尺寸：不超過460×360 mm（高150 mm）

              4、X射線照射徑：φ1.2 mm（可選：φ1.2 mm/φ0.1 mm 切換）

              5與時俱進、 檢測(cè)器：高純硅檢測(cè)器 XEROPHY

              6性能、 設(shè)備重量：約 265 kg（不含桌子、計(jì)算機(jī)）

              7綜合運用、 外形尺寸：分析部分：610（W）×750（D）×500（H）mm 

       8供給、 信號(hào)處理部：220（W）×500（D）×480（H）mm 

       9、可同時(shí)測(cè)量4層金屬鍍層的厚度實事求是。

                    HORIBA在能量色散XRF方面的XGT（X射線導(dǎo)向管聚焦）技術(shù)實(shí)現(xiàn)了微小面積進行探討、高X射線能量聚焦測(cè)量，確保了微區(qū)測(cè)量服務水平、快速測(cè)量最新、高精度測(cè)量。HORIBA XGT1000WR便是一款經(jīng)典機(jī)型處理方法。