正業(yè)科技自主研發(fā)生產(chǎn)PCB精密檢測(cè)儀器重要部署，繼特性阻抗測(cè)試儀ZK2120之后又推出新的高頻特性阻抗測(cè)試儀ZK2130具體而言，ZK2130比ZK2120測(cè)的阻抗值更加精確，且ZK2130帶有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能智慧與合力。ZK2013的推出更能滿(mǎn)足客戶(hù)的需求喜愛，同時(shí)也得到了廣大客戶(hù)的認(rèn)可。
高頻特性阻抗測(cè)試儀ZK2130是采用時(shí)域反射技術(shù)設(shè)計(jì)的開放要求，能夠批量化向好態勢、自動(dòng)化、快速服務機製、準(zhǔn)確測(cè)試PCB跡線(xiàn)的特性阻抗貢獻力量，并提供測(cè)試波形分析、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析薄弱點、自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)覆蓋範圍、自動(dòng)出具檢測(cè)報(bào)告并打印等功能。適用于電路板制造廠商的研發(fā)積極性、設(shè)計(jì)奮勇向前、生產(chǎn)及品管單位。為高頻線(xiàn)路板特性阻抗測(cè)試提供了一套快速實施體系、準(zhǔn)確組建、標(biāo)準(zhǔn)和經(jīng)濟(jì)的解決方案。
特點(diǎn)：
1效果較好、批量化重要的意義、自動(dòng)化測(cè)試持續，操作簡(jiǎn)單、測(cè)試快捷持續發展，適合PCB工廠快速測(cè)試必然趨勢。
2、Windows操作環(huán)境擴大，友好的人機(jī)界面多樣性，自動(dòng)出具測(cè)試結(jié)果。
3新格局、提供單端和差分阻抗測(cè)試明顯。
4、支持2通道顯示、4通道測(cè)試創新為先。
5、快速定制測(cè)試任務(wù)及批量化科普活動、自動(dòng)化測(cè)試功能創新延展。
6、集成測(cè)試文件編輯器充足，快速設(shè)置測(cè)試參數(shù)進展情況。
7、自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)綠色化發展，生成報(bào)表并保存在磁盤(pán)上至關重要。
8、顯示測(cè)試波形用上了、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析及測(cè)試結(jié)果提升行動。
9、打印測(cè)試報(bào)表關註、波形及測(cè)試結(jié)果研究進展。
10、符合IPC-TM-650和IPC2141標(biāo)準(zhǔn)連日來。
技術(shù)參數(shù)
項(xiàng)目 規(guī)格
型號(hào) TDR-ZK2120
控制阻抗測(cè)試范圍 20～150Ω
測(cè)量精度 50Ω±1%
測(cè)量長(zhǎng)度 0.05～2m
水平顯示分辨率 0.2mm
垂直顯示分辨率 0.05Ω
測(cè)試方法 時(shí)域反射法
帶寬 3GHZ
數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能 SPC功能模塊
