非接觸方塊電阻測(cè)試儀原理和技術(shù)：

非接觸方塊電阻測(cè)量?jī)x使用渦電流（Eddy Current）的測(cè)試原理。渦電流（也稱為感應(yīng)電流）可產(chǎn)生一個(gè)磁場(chǎng)提升，當(dāng)磁場(chǎng)與導(dǎo)電材料接觸時(shí)大大提高，會(huì)在材料中感應(yīng)到渦流。根據(jù)感應(yīng)渦流的電流大小研究成果，可以計(jì)算得到該材料的面電阻（方塊電阻）取得了一定進展。

非接觸方塊電阻測(cè)試儀原理和技術(shù)：

非接觸方塊電阻測(cè)量?jī)x使用渦電流(Eddy Current)的測(cè)試原理。渦電流(也稱為感應(yīng)電流)可產(chǎn)生一個(gè)磁場(chǎng)大面積，當(dāng)磁場(chǎng)與導(dǎo)電材料接觸時(shí)積極參與，會(huì)在材料中感應(yīng)到渦流。根據(jù)感應(yīng)渦流的電流大小培養，可以計(jì)算得到該材料的面電阻（方塊電阻）交流研討。

該技術(shù)的優(yōu)勢(shì)：

1. 是一種非接觸、無(wú)損的測(cè)量方式形式，不破壞材料建設應用；

2. 可以測(cè)量密封在絕緣層內(nèi)的導(dǎo)電層；

3. 每秒采樣次數(shù)高達(dá)數(shù)萬(wàn)次日漸深入，測(cè)量速度快動力；

測(cè)量范圍：

配備不同的測(cè)試頭可以測(cè)量不同范圍的面電阻。

10X測(cè)試頭：5 ~ 100,000 (Ohms/sq) ;

1X測(cè)試頭：0.5 ~ 10,000(Ohms/sq) ; 

0.1X測(cè)試頭：0.05 ~ 1,000(Ohms/sq);

0.01X測(cè)試頭：0.005 ~ 100(Ohms/sq);

應(yīng)用領(lǐng)域：

- 防靜電/導(dǎo)電薄膜互動式宣講；

- 天線效高性；

- 汽車模式；

- 電池；

- 裝飾薄膜/紙張提升；

- 顯示器充分發揮；

- 花線電路和柔性電路板；

- 電鍍成就；

- 玻璃窗；

- 金屬化電容用箔開展面對面；

- 金屬化標(biāo)簽系統；

- 微波感應(yīng)器；

- 包裝進一步提升；

- 雷達(dá)吸波材料空間廣闊；

- 反射和反光材料；

- 半導(dǎo)體改革創新；

- 太陽(yáng)能知識和技能；

- 透明導(dǎo)電薄膜；