透射電鏡原位電學(xué)原位力學(xué)系統(tǒng)樣品桿，一桿多用：僅僅通過更換芯片形式，即可實現(xiàn)原位加熱置之不顧、原位電學(xué)、原位液體和原位氣體研究數字化，極為有效的幫助科研人員提高科研水平合作關系，*的拓展透射電鏡TEM應(yīng)用范圍。

• 透射電鏡原位電學(xué)原位力學(xué)系統(tǒng)樣品桿深刻內涵，一桿多用：僅僅通過更換芯片傳遞，即可實現(xiàn)原位加熱、原位電學(xué)深入闡釋、原位液體和原位氣體研究相關性，極為有效的幫助科研人員提高科研水平，*的拓展透射電鏡TEM應(yīng)用范圍提高。

   

• 由科學(xué)家精心研發(fā)制造可以使用，性能*進入當下，質(zhì)量可靠。

透射電子顯微鏡是*的提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗 手段效高化。透射電子顯微鏡原位電學(xué)性能測試系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝 掃描探針控制單元新體系，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操控和電學(xué)測量。并可在電學(xué)測量 的同時創造，動態(tài)不難發現、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分設備製造、元素價態(tài)進行綜合表征發展需要，極 大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。 本系統(tǒng)包括包括兩部分管理，分別是掃描探針控制器（內(nèi)含電流前置放大器）與原位測量樣品桿部分顯示。

透射電鏡原位光電性質(zhì)測試系統(tǒng)

本系統(tǒng)是在透射電鏡標準樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，可在三維空間內(nèi)對電學(xué)探針與光纖探針進行亞納米級精度的操縱與定位效率和安。通過電學(xué)探針施加電場設計能力，通過光纖施加光場，對單個納米結(jié)構(gòu)進行操控并進行電學(xué)性質(zhì)深入開展、光學(xué)性質(zhì)的測量更為一致。并可在物性測量的同時，動態(tài)技術的開發、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)研究與應用、化學(xué)組分、元素價態(tài)進行綜合表征更高效，*地擴展了透射電鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域全面協議。