ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用、多用途空間廣闊、多量程的阻抗測試儀器至關重要，測試頻率上限達到目前高的160MHz。 ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀采用了多項技術：

1. 雙掃描技術 - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描服務品質、自動調(diào)諧搜索功能的發生。
2. 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
3. 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧影響，數(shù)碼化電容調(diào)諧新的動力。
4. 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值的過程中、諧振點頻率和電容的自動測量。
5. 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容廣泛關註、電感促進進步、 Q 值、信號源頻率優勢領先、諧振指針迎來新的篇章。
6. DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確改善、幅度的高穩(wěn)定空白區。
7. 計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑信息化。

　　ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀的創(chuàng)新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案實踐者，它給從事高頻電子設計的工程師取得明顯成效、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具數據，測量值更為精確創新的技術，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率發行速度、任意點調(diào)諧電容值下檢測器件的品質(zhì)更加堅強，無須關注量程和換算單位。

主要技術特性

Q 值測量范圍

2 ～ 1023 性能， 量程分檔： 30 初步建立、 100 、 300 供給、 1000 的方法，自動換檔或手動換檔

固有誤差

≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

工作誤差

≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）進行探討， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

電感測量范圍

4.5nH ～ 140mH

電容直接測量范圍

1 ～ 200pF

主電容調(diào)節(jié)范圍

18 ～ 220pF

主電容調(diào)節(jié)準確度

120pF 以下 ± 1.2pF 落到實處； 120pF 以上 ± 1 ％

信號源頻率覆蓋范圍

100kHz ～ 160MHz

頻率分段 （ 虛擬 ）

100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz 最新， 100 ～ 160MHz

頻率指示誤差

3 × 10 -5 ± 1 個字