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電子背散射衍射EBSD

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  • 公司名稱 鉑悅儀器(上海)有限公司
  • 品牌
  • 型號(hào)
  • 所在地 上海市
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2016/1/8 8:00:00
  • 訪問次數(shù) 1409

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QUANTAX EBSD分析系統(tǒng)面向不通水平的用戶,具有簡(jiǎn)潔易用和多功能的特點(diǎn)組建。無論是單機(jī)分析還是與EDS一體化集成表現,CrystAlign均能為各種不同晶體材料的研究提供更大的通用性和靈活性。其中深刻變革,高性能e-Flash系列EBSD探頭是該系統(tǒng)極為重要的組成部分結論。

Bruker非常注重e–Flash系列探測(cè)器的設(shè)計(jì),結(jié)合自身在電子顯微鏡設(shè)備領(lǐng)域數(shù)十年的開發(fā)經(jīng)驗(yàn)和對(duì)用戶需求的深入了解質生產力,e–Flash

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QUANTAX EBSD能譜儀

QUANTAX EBSD分析系統(tǒng)面向不通水平的用戶適應性強,具有簡(jiǎn)潔易用和多功能的特點(diǎn)。無論是單機(jī)分析還是與EDS一體化集成推動,CrystAlign均能為各種不同晶體材料的研究提供更大的通用性和靈活性相對較高。其中,高性能e-Flash系列EBSD探頭是該系統(tǒng)極為重要的組成部分信息。

Bruker非常注重e–Flash系列探測(cè)器的設(shè)計(jì)相關,結(jié)合自身在電子顯微鏡設(shè)備領(lǐng)域數(shù)十年的開發(fā)經(jīng)驗(yàn)和對(duì)用戶需求的深入了解,e–Flash系列探測(cè)器具有非常出色的可用性和安全特性豐富內涵,并支持從高速到高分辨生產效率、高靈敏度的EBSD應(yīng)用。

e–Flash1000— 專注于高速EBSD分析

e–Flash1000是迄今市場(chǎng)上速度zui快的EBSD探測(cè)器發展。8x8面元模式下保持穩定,該探測(cè)器提供的850patterns/s的采集速度;4x4面元模式下面向,采集速度可達(dá)630patterns/s支撐作用。與其他EBSD系統(tǒng)相比較,該速度是當(dāng)前行業(yè)內(nèi)zui快的速度(8x8面元)建設項目。

該EBSD探測(cè)器深刻表明:速度最為突出、準(zhǔn)確度和精確度可兼得,即使在zui高采集速度下也能保證準(zhǔn)確的相辨別相結合。取向識(shí)別的精確度也是e–Flash1000的標(biāo)準(zhǔn)特征高效化。右側(cè)的取向差圖描繪圖可很好的印證製高點項目。

在原生分辨率(640x480像素)條件下,e–Flash1000采集速度可達(dá)210patterns/s範圍和領域。

e–FlashHR —專注于高分辨分析

高分辨EBSD探測(cè)器是高速EBSD探測(cè)器的有效市場(chǎng)補(bǔ)充有所增加。Bruker的e–FlashHR高分辨EBSD探測(cè)器具有1600x1200像素的原生分辨率,其提供具有驚人細(xì)節(jié)的花樣圖像更高要求。

e–FlashHR高分辨EBSD探測(cè)器具有花樣分辨率和超高信號(hào)靈敏度越來越重要的位置,能勝任材料分析中復(fù)雜而艱難的分析任務(wù),例如:

?低束流工作

?低kV工作

?導(dǎo)電性差的樣品

?納米材料

?偽對(duì)稱性的分析

?晶格應(yīng)變研究

保證原生分辨率1600x1200像素條件下共同學習,探測(cè)器的分析速度高達(dá)35patterns/s順滑地配合。zui大面元(20x20)條件下,e–FlashHR的分析速度可達(dá)170patterns/s效高。這使它成為當(dāng)前行業(yè)內(nèi)zui快的高分辨率EBSD探測(cè)器前沿技術。

 

豎直屏幕方位的原位調(diào)節(jié)

該功能是e–Flash探測(cè)器*的特征。在電鏡真空環(huán)境下性能,當(dāng)探測(cè)器處于工作位置時(shí)拓展基地,豎直屏幕方位具有靈活的角度調(diào)節(jié)能力。在采集設(shè)置過程中培訓,它對(duì)信號(hào)的優(yōu)化和調(diào)整工作距離非常有幫助不合理波動,能給予用戶*的靈活性和舒適度。

*的安全特性

e–Flash探測(cè)器具有密封的機(jī)殼重要工具,所有的移動(dòng)部件內(nèi)置,切實(shí)避免由移動(dòng)部件引起的不必要的損害配套設備。探測(cè)器安裝僅需三根導(dǎo)線更優質,兩根以太網(wǎng)(RJ45)雙絞線分別用于信號(hào)傳輸和探測(cè)器控制,第三條導(dǎo)線用于供電推進高水平。導(dǎo)線固定安裝脫穎而出,避免導(dǎo)線之間的纏繞和外部損傷。

EBSD外殼頂部標(biāo)配藍(lán)色LED指示器生產創效,無論探測(cè)器是否關(guān)閉結構,實(shí)時(shí)顯示磷屏位置。該設(shè)計(jì)可有效避免磷屏與SEM樣品腔中的部件發(fā)生碰撞而導(dǎo)致磷屏損壞的風(fēng)險(xiǎn)優化上下。一旦發(fā)生碰撞能力建設,快速回縮機(jī)制會(huì)立刻觸發(fā),將EBSD探測(cè)器以10mm/s的速度移出樣品腔生產體系。磷屏更換非常簡(jiǎn)便服務,如屏幕被劃傷或損壞,用戶也可以輕松的自行更換能力和水平。

靈活性—適合任何分析環(huán)境和任務(wù)

e–Flash探測(cè)器具有非常大的伸入長(zhǎng)度覆蓋,對(duì)于當(dāng)前zui大樣品腔的電鏡異常狀況,也適合安裝「咝??焖俚奶綔y(cè)器移動(dòng)速度和定位的精準(zhǔn)性應用創新,對(duì)于3D EBSD等的高重復(fù)性任務(wù)非常實(shí)用。


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