Leica EM RES102 離子減薄儀通過離子槍激發(fā)獲得離子束積極回應，以一定入射角度對樣品進行轟擊重要性，以去除樣品表面原子，從而實現(xiàn)對樣品的離子束加工多種場景。Leica EM RES102主要功能為：對無機薄片樣品進行離子減薄多元化服務體系，使得薄片樣品可被透射電子穿過，從而適宜TEM透射電子顯微鏡觀察擴大公共數據；對無機塊狀樣品進行離子束拋光深度、離子束刻蝕，樣品表面離子清洗及斜坡切割核心技術體系，便于SEM掃描電子顯微鏡觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息開拓創新。

Leica EM RES102離子減薄儀? 通過離子槍激發(fā)獲得離子束，以一定入射角度對樣品進行轟擊必然趨勢，以去除樣品表面原子促進善治，從而實現(xiàn)對樣品的離子束加工。
Leica  EM  RES102離子減薄儀? 主要功能為：對無機薄片樣品進行離子減薄多樣性，使得薄片樣品可被透射電子穿過發揮效力，從而適宜TEM透射電子顯微鏡觀察；對無機塊狀樣品進行離子束拋光明顯、離子束刻蝕安全鏈，樣品表面離子清洗及斜坡切割，便于SEM掃描電子顯微鏡觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息創新為先。

? 主要技術(shù)參數(shù)：
•  具有2把離子槍真正做到，離子束能量為0.8keV-10keV，相對位置創新延展，可分別±45°傾斜調整推進，樣品臺傾斜角度-120°至 210°，離子束加工角度0°至90°兩個角度入手，樣品
平面擺動角度<360°建強保護，垂直擺動距離±5mm同期。實際操作參數(shù)根據(jù)具體應(yīng)用需要選擇（系統(tǒng)備有參考參數(shù)生產效率，也可自行設(shè)置參數(shù)并存儲）
•  可選配樣品臺：TEM樣品臺（Ø3.0mm或Ø2.3mm），F(xiàn)IB樣品清洗臺效果，SEM樣品臺使用，斜坡切割樣品臺（對樣品35°或90°斜坡切割）等
•  SEM樣品臺可容納zui大樣品尺寸：直徑25mm，高度12mm
•  全無油真空系統(tǒng)密度增加，樣品室?guī)в蓄A抽室有效性，保證樣品交換時間<1分鐘
•  全電腦控制，觸摸屏操作界面機遇與挑戰，內(nèi)置視頻觀察系統(tǒng)廣泛關註，可實時觀察樣品處理過程