德國PRO-CEHM 納分析儀PC2014
對除鹽水的各個(gè)階段進(jìn)行鈉的連續(xù)監(jiān)測重要性,確保水的純度*和化學(xué)藥水的高效使用又進了一步。 在發(fā)電廠的蒸汽/水循環(huán)中,對納的監(jiān)測結(jié)果可以提供冷凝器泄露預(yù)警多元化服務體系、汽輪機(jī)的潛在腐蝕或銹斑預(yù)警規劃。德國PRO-CEHM 納分析儀PC2014 型能夠準(zhǔn)確地檢測出納的濃度。


產(chǎn)品細(xì)節(jié)
技術(shù)參數(shù) 用途特點(diǎn)
技術(shù)參數(shù)
量 程: | 0.001-1000ppb |
陽離子應(yīng)用: | 0.01-100ppm |
分 辨 率: | 0.001ppb/0.01ppm |
精 度: | 測量值的10% 或者 +/1 0.002 ppb Na+ |
測 量 方 式: | 在線電位滴定法 |
測 量 體 積: | 20mls |
校 準(zhǔn) 體 積: | 340mls |
試 劑: | 1種試劑 1升/3個(gè)月 |
陽離子應(yīng)用: | 酸度依賴 |
采樣條件如下: | |
溫 度: | 5-45℃ |
壓 力: | 0.1-6bar(90psi) |
流 量: | 低20ml/分鐘 |
顆 粒: | 低于10ppm深度,不含油脂 |
P H 值: | 2-12之間 |
報(bào) 警: | 2個(gè)潛在自由繼電器輸出 1個(gè)為鈉報(bào)警 1個(gè)為系統(tǒng)錯誤報(bào)警 |
觸點(diǎn)額定值: | 500VA 250V-2A |
輸 出: | 4-20mA |
可調(diào)濃度范圍: | 大負(fù)荷600 ohms |
分辨率: | 6μA (12字節(jié)) |
選 配: | TTL 或者 RS422/485 Profibus-DP 界面 |
電磁兼容性: | 兼容EN 50081-1和EN 50082-2帶動擴大,可以不受限制的應(yīng)用與惡劣環(huán)境與工業(yè)領(lǐng)域。 |
柜式尺寸: | 800 X 600 X 300 HXWXD |
壁掛式: | 26“ X 17” X 10“ HXWXD |
產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)
典型的特征如下:
校準(zhǔn)
全自動校準(zhǔn)開拓創新,校準(zhǔn)方法為廣經(jīng)證明的雙稱技術(shù)持續發展。
通過這種方法校準(zhǔn)的儀器量程更精確.
校準(zhǔn)過程中,通過監(jiān)控電極對濃度變化的響應(yīng)來確保電極的性能良好主動性,縮短校準(zhǔn)時(shí)間創造性。
操作簡單可靠
微處理器控制的變送器產(chǎn)生精確的和可復(fù)寫的數(shù)據(jù)發展的關鍵,該數(shù)據(jù)有數(shù)字顯示,條形圖/數(shù)字顯示規模設備,和圖像顯示等模式真諦所在。
自我診斷功能監(jiān)測儀器的運(yùn)行狀況。當(dāng)測量數(shù)據(jù)不可靠時(shí)競爭力,系統(tǒng)會發(fā)出錯誤報(bào)警并顯示可能的原因(例如:沒有取樣水充分、濃度超出范圍、溫度超出范圍集聚、試劑不足等)
低維護(hù)成本
創(chuàng)新的設(shè)計(jì)只需要極少的維護(hù)競爭力,因此很少需要人力操作。
運(yùn)行成本又因?yàn)檩^低的試劑消耗量而進(jìn)一步降低(每3個(gè)月僅需要1升試劑)發展基礎。
所有的試劑都會被消耗掉兩個角度入手,不會有廢棄試劑需要處理。
輸出
模擬輸出4-20mA同期,0-5或者10VDC生產效率,自由可編程對數(shù)或者線性濃度范圍。
1個(gè)鈉濃度高報(bào)警效果,和1個(gè)系統(tǒng)故障報(bào)警繼電器輸出
數(shù)字輸出可以直接與電腦通訊使用,用于遠(yuǎn)程控制
總線接口TTL或者RS 422/485,每總線可以對接32路控制器密度增加。
此外有效性,可選配Profibus-DP接口來完成通訊功能
檢測方法
鈉濃度是通過鈉離子選擇性玻璃電極來進(jìn)行檢測的。鈉傳感器產(chǎn)生的信號與鈉濃度的對數(shù)成正比機遇與挑戰。
化學(xué)原理
使用試劑將采集的樣品的pH值上升到11.2廣泛關註,以去除pH值和銨離子干擾。水溶性集成技術,揮發(fā)性胺試劑被*消耗就能壓製。
校準(zhǔn)
校準(zhǔn)基于雙已知加成技術(shù),根據(jù)用戶選擇的標(biāo)準(zhǔn)溶液進(jìn)行適應能力。
校準(zhǔn)過程中更優美,對電極的響應(yīng)特性進(jìn)行監(jiān)測。響應(yīng)數(shù)據(jù)被用來診斷電極的性能防控,并減少校準(zhǔn)時(shí)間優勢。