納優(yōu)公司新型免拆分機型，*垂直照射配合0.5zui小光斑照射了解情況，免除了以往測樣部分產(chǎn)品需拆解的操作深入，有效的為客戶節(jié)省資源和成本，功能強大重要的，測試快速大面積、準確

主機外形（mm）：長*寬*高= 9 0 0 * 5 0 0 * 4 4 0
※ 樣 品 倉（mm）：長*寬*高= 4 3 0 * 3 8 0 * 1 2 0
※ 主機重量：約60 公斤

元素檢測范圍：Na-U

準直器（光斑）配置及典型應(yīng)用：
Φ0.5mm：免拆分測量、微小樣品（如：貼片元件問題分析、插針培養、焊點、元器件管腳等）單體直接測量
Φ1.0mm：較小樣品單體測量更加完善、鍍層厚度測量等
Φ3.0mm：常規(guī)樣品測量
4mmⅩ4mm：實現(xiàn)掃描測量（Mapping）功能

探測器：美國SDD 電致冷半導體探測器（硅漂移型高性能電致冷半導體探測器形式，是世界上的半導體探測器）

*能量分辨率：≤130eV

高壓范圍：0-50KV，50W

濾光片：16組濾光片（業(yè)界zui多支撐作用，預(yù)留將來CN-RoHS管控升級所需要配置日漸深入，節(jié)約費用支出）

光管類型：Mo靶側(cè)窗X光管（技術(shù)），設(shè)計壽命大于25000小時