半導體領(lǐng)域探針臺手動點針工作站probe
在集成電路的研發(fā)作用、生產(chǎn)制造、實效分析過程中行業分類，經(jīng)常要量測內(nèi)部的電參數(shù)技術特點，由于制成的越來越低，沒有辦法用簡單的萬用表發展邏輯、示波器的表筆來探測信號凝聚力量。手動分析探針臺能很好的幫助工程人員實現(xiàn)微小位置的電學參數(shù)測試。Advanced在中國推出手動分析探針臺近10年歷史聽得進，銷售實績800多臺新的力量，并且每年銷量穩(wěn)居行業(yè)銷量。行業(yè)客戶有：友達光電各項要求、華映光電更高要求、奇美光電、群創(chuàng)光電新技術、飛兆半導體共同學習、德州儀器、華虹集成深入、華為效高、電子五所、航天808所全方位、航天201所高效節能、中科院微電子所、蘇州中科院納米研究所、復旦大學新創新即將到來、上海交通大學邁出了重要的一步、西安電子科技大學、溫州大學設施、福州大學需求、廈門大學等等……
半導體領(lǐng)域探針臺手動點針工作站probe
型號： PW-600/PW-800
規(guī)格：
chuck尺寸150mm（200mm）
X,Y電動移動行程150mm（200mm）
chuck粗調(diào)升降8mm，微調(diào)升降25mm
可搭配MOTIC金相顯微鏡或者AEC實體顯微鏡
針座擺放個數(shù)6～8顆
顯微鏡X-Y-Z移動范圍2“x2”x2“
可搭配Probe card測試
適用領(lǐng)域：6寸/8寸Wafer組合運用、IC測試之產(chǎn)品
型號： PW-400
規(guī)格：
chuck尺寸100mm
X,Y移動行程100mm
chuck Z軸方向升降10mm（選項）
搭配AEC實體顯微鏡
針座擺放個數(shù)2～4顆
適用領(lǐng)域：4寸Wafer更讓我明白了，如晶圓廠、LED積極、學術(shù)單位等
半導體領(lǐng)域探針臺手動點針工作站probe
RF高頻探針臺
東探索、南、西產業、北測試臂
搭配美國GGB高頻測試頭
DC~10/40/50/67GHZ （GSG,GS,SG）
Pitch 100～1500um
探針材料：BeCu/Tungsten
半導體領(lǐng)域探針臺手動點針工作站probe
