世界*精度及強大功能Park原子力顯微鏡產(chǎn)品特性
Park XE15具備多個特殊功能功能，是共享實驗室處理各類樣品應用的因素之一、研究員進行多變量實驗、失效分析師研究晶片等的*預期。合理的價格搭配強健的性能設(shè)置敢於監督，使其成為業(yè)內(nèi)的大型樣品原子力顯微鏡。
MultiSample™（多重采樣TM）掃描器帶來zui便捷樣品測量
- 多樣品一次性自動成像
- 特殊設(shè)計的多樣品夾頭就能壓製，zui多可承載16個獨立樣品
- 全自動XY樣品載臺，行程范圍達200 mm x 200 mm適應能力。
無軸間耦合提高掃描精度
- 兩種獨立閉環(huán)XY和Z平板式掃描
- 平板式和線性XY掃描可達100μm x 100μm更優美，且殘余壓彎小
- 整個掃描范圍內(nèi)的異面移動小于2nm
- 強力掃描器達25μm Z掃描范圍
- 精確的高度測量
Non-Contact™（真正非接觸TM）模式延長針尖使用壽命、改善樣品保存及精度
- 其Z掃描頻寬是壓電管基礎(chǔ)系統(tǒng)的10倍
- 非接觸式可降低針尖磨損解決方案、延長使用壽命
- 成像分辨率高于同類原子力顯微鏡
- 降低樣品干擾優勢，提高掃描精度
提供*用戶體驗
- 開放式側(cè)面接入，提高樣品及針尖更換效率
- 預(yù)對準(zhǔn)的針尖安裝和*的軸上俯視法可簡單直觀地實現(xiàn)激光對準(zhǔn)
- 燕尾鎖封片方便鏡頭拆卸
- 界面帶自動設(shè)置功能增產，方便用戶使用
多種模式與選項
- 綜合性測量模式及特性設(shè)置便利性，是我司*通用型原子力顯微鏡
- 多種可選配件及更新，擴展性能*
-? 為缺陷分析提供*電氣測量
* 產(chǎn)品特點
100um x 100 um掃描范圍的XY柔‘性導(dǎo)向掃描器
XY掃描器含系統(tǒng)二維彎曲及強力壓電堆疊行動力，可使極小平面外移動形成較大的正交運動提供有力支撐，并能快速響應(yīng)，實現(xiàn)精確的樣品納米級掃描保供。
柔性導(dǎo)向強力Z掃描器
在強力壓電堆疊的驅(qū)動及彎曲結(jié)構(gòu)的引導(dǎo)下自行開發，其硬度允許掃描器高速豎直運動，較傳統(tǒng)原子力顯微鏡掃描器更加高速責任。zui大Z型掃描范圍搭配遠程Z掃描器（選配）可延長12μm至25μm應用情況。
滑動連接的超亮二極管頭
通過將原子力顯微鏡頭沿楔形軌道滑動，可輕松將其插入或取出組建。低相干的超發(fā)光二極管頭可實現(xiàn)高反射表面的精確成像和力-矩光譜的精確測量表現。超亮二極管頭的波長幫助減輕干擾問題特點，因此用戶在可見光譜實驗中也可使用本產(chǎn)品。
多樣品夾頭
特殊設(shè)計的多樣品夾頭結論，做多可承載16個獨立樣品和諧共生，由多重采樣掃描器自動按順序掃描。特殊的夾頭設(shè)計為接觸樣品針尖預(yù)留了邊通道智能化。
選配編碼器的XY自動樣品載臺
自動集成XY載臺可輕松并精確控制樣品的測量位置科技實力。XY樣品載臺的行程范圍可配置為150 mm x 150 mm或200 mm x 200 mm。若搭配自動載臺使用編碼器建設，可提高樣品定位的精確度和重復(fù)性在此基礎上。編碼XY載臺工作時分辨率為1 μm，重復(fù)率為2 μm前來體驗。編碼Z載臺的分辨率為0.1 μm自主研發，重復(fù)率為1 μm。
高分辨率數(shù)碼變焦感光元件攝像頭
高分辨率數(shù)碼感光元件攝像頭利用直接同軸光學(xué)更加廣闊，具備變焦功能損耗，無論是否搖攝均可確保圖像具有清晰的成像質(zhì)量。
垂直對齊的自動Z載臺及聚焦載臺
Z載臺和聚焦載臺可將懸臂嚙合到樣品表面上保持穩定，同時確保用戶視野清晰穩(wěn)定總之。聚焦載臺是由軟件控制自動運行的，因此滿足透明樣品及液態(tài)元件應(yīng)用所需精度支撐作用。
彎曲基底解耦XY和Z掃描器
Z掃描器與XY掃描器*解耦研學體驗。XY掃描器在水平面上移動樣品，同時Z掃描器豎直移動探針最為突出。
此配置以zui小異面移動落實落細，實現(xiàn)了平板式XY掃描。此XY掃描同時還具有高正交性與線性高效化。
業(yè)內(nèi)zui低本底噪聲
為探測zui小樣品的特性製高點項目，幫助zui快運動平面成像，Park Systems設(shè)計了業(yè)內(nèi)0.5?以下的zui低本底噪聲標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備範圍和領域。使用“零掃描”探測本地噪聲數(shù)據(jù)有所增加。
真正非接觸模式延長針尖使用壽命
XE系列原子力顯微鏡已成功搭配強力Z掃描系統(tǒng)*的真正非接觸模式。真正非接觸模式下更高要求，使用的是相吸而非相排斥的內(nèi)部原子力反應能力。
真正非接觸模式因此成功地保持了針尖樣品納米級間距，改善了原子力顯微鏡圖像學習，保持針尖的銳利結構重塑，因此有效延長了針尖使用壽命。
預(yù)對準(zhǔn)懸臂支撐
預(yù)先安裝在探針支撐上，因此不需要嚴(yán)格對齊激光束高質量發展。
高分辨率的直接同軸光學(xué)元件
用戶可直接俯視觀看樣品全方位，操控樣品表面，從而很容易就能找到目標(biāo)區(qū)域影響力範圍。高分辨率數(shù)碼攝像頭具備變焦功能大局，無論是否搖攝均可確保圖像具有清晰的成像質(zhì)量。
帶DSP控制芯片的XE控制電子元件
原子力顯微鏡發(fā)出的納米級信號將由高性能Park XE電子元件控制并處理邁出了重要的一步。Park XE電子元件為低噪聲設(shè)計有序推進，配備高速處理單元，可成功實現(xiàn)真正非接觸™模式需求，是納米級成像及電壓電流精準(zhǔn)測量的理想選擇堅定不移。
- 600 MHz、4800 MIPS速度的高性能處理單元
- 低噪聲設(shè)計更讓我明白了，適合電壓電流精準(zhǔn)測量
-通用系統(tǒng)迎難而上，各SPM技術(shù)均可得到應(yīng)用
- 外部信號接入模塊，存取原子力顯微鏡輸入/輸出信號
- zui多16個數(shù)據(jù)成像
- zui大數(shù)據(jù)尺寸：4096 x 4096像素
- 16位ADC/DAC拓展應用，速度達500 kHz
- TCP/IP連接生產創效，隔離計算機接出電噪
