產(chǎn)品詳情
UX-700 鍍層厚度檢測(cè)儀 華唯
配置型號(hào) | 探測(cè)器 | X光管 | 高壓電源 |
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Ux-700 H | AMPTEK Si-PIN X-123(進(jìn)口) | 上洪L期間？祁U維（國(guó)產(chǎn)） | spellman(進(jìn)口) |
Ux-700 S | AMPTEK SDD X-123(進(jìn)口) | 上夯厩闆r？祁U維（國(guó)產(chǎn)） | spellman(進(jìn)口 |
UX-700 鍍層厚度檢測(cè)儀 華唯產(chǎn)品介紹：
UX-700 鍍層厚度檢測(cè)儀 華唯本著對(duì)插接件等細(xì)小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測(cè)量現場，Ux-700更專業(yè)小樣品測(cè)試腔的設(shè)計(jì)，帶有聚焦光點(diǎn)的準(zhǔn)直器力量，高分辨率的探測(cè)系統(tǒng)我有所應，眾多*條件的選擇，保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性深入實施。
UX-700 鍍層厚度檢測(cè)儀 華唯X射線熒光技術(shù)測(cè)試鍍層厚度的應(yīng)用能力建設，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件，無損研究進展、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn)，對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障機遇與挑戰。
Ux-700鍍層測(cè)厚儀配備了XY軸微移動(dòng)平臺(tái)廣泛關註，可以通過鼠標(biāo)的點(diǎn)擊操作，選擇樣品的多點(diǎn)測(cè)試集成技術，特別適應(yīng)于細(xì)小結(jié)構(gòu)多種不同鍍層材料的測(cè)試就能壓製。
Ux-700鍍層測(cè)厚儀具有高清晰、高放大倍數(shù)的攝像設(shè)備適應能力，測(cè)試樣品的部位清楚明了更優美，同時(shí)攝像設(shè)備拍抓測(cè)試部位的圖片，和測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)果一同出現(xiàn)在測(cè)試報(bào)告中防控。
Ux-700鍍層測(cè)厚儀采用了華唯技術(shù)FlexFp -Multi成效與經驗，不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制，在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測(cè)試樣品的鍍層厚度堅實基礎。
UX-700 鍍層厚度檢測(cè)儀 華唯產(chǎn)品指標(biāo)：
測(cè)厚技術(shù)：X射線熒光測(cè)厚技術(shù)
測(cè)試樣品種類：金屬鍍層稍有不慎，合金鍍層
測(cè)量下限：0.003um
測(cè)量上限：30-50um（以材料元素判定）
測(cè)量層數(shù)：10層
測(cè)量用時(shí)：30-120秒
探測(cè)器類型：Si-PIN電制冷
探測(cè)器分辨率：149eV
高壓范圍：5-50Kv，50W
X光管參數(shù)：5-50Kv等地，50W最為顯著，側(cè)窗類；
光管靶材：Mo靶規定；
濾光片：鍍層濾光片
CCD觀察：260萬像素
微移動(dòng)范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V環境，50/60Hz
測(cè)試環(huán)境：非真空條件
數(shù)據(jù)通訊：USB2.0模式
準(zhǔn)直器：Ø0.5mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區(qū)：開放工作區(qū) 自定義
樣品腔：70*20mm
整機(jī)重量：38kg
UX-700 鍍層厚度檢測(cè)儀 華唯鍍層測(cè)厚方法：
1.磁性涂層測(cè)厚法
使用磁性測(cè)厚法可測(cè)鐵、鋼導(dǎo)磁金屬上面的所有非導(dǎo)磁金屬和所有非導(dǎo)電層的厚度高質量，如鐵上鍍銅相對簡便、鋅、鉻流程、金趨勢、銀等，涂的油漆上高質量、塑料一站式服務、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等引領作用。
2.渦流層層測(cè)厚法
可以測(cè)量非導(dǎo)磁導(dǎo)電金屬上面非導(dǎo)電涂層的厚度加強宣傳，如不銹鋼、銅用的舒心、鋁金屬上的油漆層在此基礎上、氧化膜、磷化膜前來體驗、玻璃鋼自主研發、橡膠等圖層的厚度
3.X射線熒光法
所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測(cè)試更加廣闊，同時(shí)可以測(cè)試鍍層材料的合金成分含量比例損耗。
常用單位：
微米（um），微英寸（u‘’）俗語“邁”非常完善，密耳（mil）
1um=39.4邁性能穩定， 1um=0.04mil
