Metris XT H 450 LC建立了渦輪葉片測(cè)量和中小鑄件NDT檢測(cè)的新參考標(biāo)準(zhǔn)。這臺(tái)功能強(qiáng)大的設(shè)備的核廣泛應用，部件是一個(gè)450kV微焦點(diǎn)源，可提供超高分辨率和超高精度橫向協同。彎曲的線性陣列探測(cè)器通過(guò)消除散射現(xiàn)象哪些領域，優(yōu)化了X射線圖像的采集，散射現(xiàn)象通常會(huì)影響葉片和其它金屬件的二維射線照片長遠所需。

　　450KV微焦點(diǎn)工業(yè)CT XTH450 LC

　　XT H 450 LC求索，用于葉片和鑄件的CT檢測(cè)，帶有高功率450kV微焦點(diǎn)X射線源　Metris XT H 450 LC建立了渦輪葉片測(cè)量和中小鑄件NDT檢測(cè)的新參考標(biāo)準(zhǔn)規模。這臺(tái)功能強(qiáng)大的設(shè)備的核穩定發展，部件是一個(gè)450kV微焦點(diǎn)源，可提供超高分辨率和超高精度聯動。

       彎曲的線性陣列探測(cè)器通過(guò)消除散射現(xiàn)象增持能力，優(yōu)化了X射線圖像的采集，散射現(xiàn)象通常會(huì)影響葉片和其它金屬件的二維射線照片行業內卷。該探測(cè)器是一臺(tái)非常靈活的設(shè)備追求卓越，可處理小金屬件到大金屬件，例如葉片參與能力、鑄件等

　　XTH450 LC的優(yōu)點(diǎn) ：可靈活地整合在單個(gè)系統(tǒng)中：X射線可用于快速目視檢測(cè)合理需求，CT可用于深入分析，快速數(shù)據(jù)采集和高質(zhì)量圖像充分發揮，高分辨率數(shù)字成像和處理高質量，嵌入式安全裝置可使操作人員安全地操作該系統(tǒng)，無(wú)需任何特殊的預(yù)防措施或安全警示標(biāo)志選擇適用。

　　XTH450 LC的特性：*的450kV微焦點(diǎn)源管理，測(cè)量體積可達(dá)600mm直徑和600mm高度，高效線性探測(cè)器交流，>80%量子檢測(cè)有效基礎，五軸*可編程托盤式操縱器提供堅實支撐，帶精密滾珠絲桿和線性滑軌，特別適用于渦輪葉片的自動(dòng)通過(guò)/不通過(guò)檢測(cè)高產。

　　應(yīng)用： 渦輪葉片內(nèi)部結(jié)構(gòu)的詳細(xì)分析信息化技術，葉片的自動(dòng)通過(guò)/不通過(guò)檢測(cè)，需要微米精度的高密度部件檢測(cè)（例如金屬件良好、鑄件）

         產(chǎn)品的規(guī)格參數(shù)詳見(jiàn)下表：

　　溫馨提示：如果您對(duì)上述的介紹有任何的疑問(wèn)或是想要了解更多關(guān)于尼康工業(yè)CT的更多常識(shí)逐步顯現，我們歡迎您的。