探針輪廓儀（臺階儀）DEKATK150
集40多年的探針輪廓技術(shù)創(chuàng)新于一身，該系統(tǒng)在行業(yè)內(nèi)的表現(xiàn)遙遙創造性，以重現(xiàn)性*和標(biāo)準(zhǔn)掃描范圍zui大而著稱發展的關鍵。它提供各種各樣的配置和附加選項，用于程序化測量保障性、低探針力表征和細(xì)節(jié)分析
臺階儀 Dektak 150 表面輪廓儀（探針式）
規(guī)格：
測試技術(shù)：探針輪廓技術(shù)
測試功能：二維表面輪廓測試
樣品視場：640*480像素帶動產業發展，USB；17 inc 平板顯示器
探針傳感器：低慣量傳感器（LIS 3）
探針壓力：使用LIS 3傳感器：1至15 mg
使用N-lite傳感器：0.03至15 mg
探針選項：探針曲率半徑可選范圍：50 nm至25 um;
高徑比針尖：10 um * 2 um 和200 um*20 um
樣品載物臺：手動X/Y/@：100*100 mm, 360度旋轉(zhuǎn)十分落實，可手動校平倍增效應；
可選Y自動移動載物臺規則製定，100 mm行程，1um重現(xiàn)性優化服務策略，0.5 um分辨率關規定；
可選X-Y自動移動載物臺，150 mm行程兩個角度入手；
1um重現(xiàn)率建強保護，0.5 um 分辨率
計算機系統(tǒng)： 主機使用celeron或者semprom處理器
軟件：Dektak軟件
臺階檢測軟件
可選應(yīng)力測量軟件
可選三維Vision分析軟件
可選縫合軟件
減震裝置：可選桌式震動隔離裝置
可選臺式震動隔離裝置
性能
掃描長度范圍 55mm（2.1英寸）
每次掃描數(shù)據(jù)點 zui多12萬數(shù)據(jù)點
zui大樣品厚度 高達90 mm （4英寸），取決于配置
zui大晶圓尺寸 150 mm（6英寸）
臺階高度重現(xiàn)性 6埃
垂直范圍：標(biāo)準(zhǔn)524um（0.02英寸）生產效率；可選1mm
垂直分辨率：zui大1A（6.55um垂直范圍下）
尺寸：292 mm *508 mm*527 mm
重量：34 kg
電源要求：
輸入電壓： 100-120VAC/200-240VAC, 50-60 HZ
Dektak150型是Veeco公司2007年正式推出的型探針式表面輪廓儀（臺階儀）產(chǎn)品使命責任，主要應(yīng)用于薄膜厚度測量、樣品表面形貌測量滿意度、薄膜應(yīng)力測量情況較常見、樣品表面粗糙度/波紋度測量、以及樣品表面三維形貌測量等眾多領(lǐng)域主要抓手。
Dektak 150集四十余年的技術(shù)積累和創(chuàng)新于一身體製，為滿足用戶不同應(yīng)用方向的需要提供了多種可選配置。堅固的鋁質(zhì)材料鑄成的機身框架以及支撐部件顯著提高了儀器的重復(fù)精度創新科技，并降低了地板噪音對測量的干擾服務延伸。基于Windows XP的Dektak隨機配備軟件系統(tǒng)界面友好具有重要意義，為用戶提供了完善的分析功能進一步。“一鍵式”操作方式使得測量工作簡單易行。通過選配三維成像附件套裝還可以*地擴充儀器的功能功能。
