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- 公司名稱 aep technology中國辦事處
- 品牌
- 型號(hào) NanoMap-D
- 所在地 北京市
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2015/12/20 20:00:00
- 訪問次數(shù) 809
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NanoMap-D三維表面輪廓儀是用于表面結(jié)構(gòu)測量和表面形貌分析的一款測量計(jì)量型設(shè)備傳遞。既可以用于科學(xué)研究,也可以用于工業(yè)產(chǎn)品的檢測勞動精神。 該款儀器可以看做是表面研究的萬用表開展攻關合作,采用接觸式和非接觸式功能集于一身的設(shè)計(jì)特點(diǎn),彌補(bǔ)兩種模式的局限預下達,發(fā)揮表面形貌儀的測量極限的有效手段。光學(xué)非接觸式有速度快,直接三維成象方案,不破壞樣品等特點(diǎn)關鍵技術。探針接觸模式方便快捷,制樣簡單深入,測量材料廣泛技術研究。
NanoMap-D三維表面輪廓儀是用于表面結(jié)構(gòu)測量和表面形貌分析的一款測量計(jì)量型設(shè)備。既可以用于科學(xué)研究開展研究,也可以用于工業(yè)產(chǎn)品的檢測姿勢。 該款儀器可以看做是表面研究的萬用表,采用接觸式和非接觸式功能集于一身的設(shè)計(jì)特點(diǎn)首要任務,彌補(bǔ)兩種模式的局限綠色化,發(fā)揮表面形貌儀的測量極限。光學(xué)非接觸式有速度快,直接三維成象保持穩定,不破壞樣品等特點(diǎn)總之。探針接觸模式方便快捷,制樣簡單支撐作用,測量材料廣泛同時。兩種模式相結(jié)合可以對(duì)更多形狀、性狀生產效率、材質(zhì)的試樣進(jìn)行表面形貌的研究產能提升。
三維表面形貌/輪廓儀主要應(yīng)用在金屬材料、生物材料節點、聚合物材料通過活化、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度,臺(tái)階高度的特點,二維粗糙度(Ra,Rq,Rmax...)健康發展,三維粗糙度(Sa,Sq,Smax),劃痕截面面積大數據,劃痕體積長效機製,磨損面積,磨損體積數字技術,磨損深度奮戰不懈,薄膜應(yīng)力(曲定量率半徑法)等定量測量。擺脫了以往只能得到二維信息措施,或三維信息過于粗糙的現(xiàn)狀大大縮短。將輪廓儀帶入了另一個(gè)高精度測量的新時(shí)代。
測量表面可以覆蓋90%以上材料表面緊密相關。設(shè)備傳感器精度高更默契了,穩(wěn)定性好,材料應(yīng)用面廣培訓。熱噪聲是同類產(chǎn)品zui低的不合理波動。垂直分辨率可達(dá)0.01 nm ( phase-shift mode) 可測跨學(xué)科、跨領(lǐng)域的各種樣品表面重要工具,包括透明積極拓展新的領域、金屬材料,半透明性能、高漫反射多種方式,低反射率、拋光技術創新、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭廣泛應用、合成材料實現了超越、光學(xué)材料、塑料去完善、涂層橋梁作用、涂料、漆求索、紙讓人糾結、皮膚、頭發(fā)穩定發展、牙齒…)基石之一;
1、三維表面結(jié)構(gòu):粗糙度,波紋度增持能力,表面結(jié)構(gòu)共同努力,缺陷分析,晶粒分析等
2追求卓越、二維圖像分析:距離,半徑,斜坡,格子圖, 輪廓線等
3逐漸完善、表界面測量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面
4合理需求、薄膜和厚膜的臺(tái)階高度測量
5是目前主流、劃痕形貌,摩擦磨損深度高質量、寬度和體積定量測量
6充分發揮、微電子表面分析和MEMS表征
輪廓儀的主要特點(diǎn):
高精度
· 的縱向分辨率:0.1 nm ( 接觸式);2 nm(光學(xué)非接觸式)
· 對(duì)周圍環(huán)境和光源的強(qiáng)適應(yīng)性
· 沒有機(jī)械過濾
寬闊的垂直測量范圍
· 多種選擇光學(xué)頭及接觸式
· 縱向掃描范圍 300 to 3900 μm
· 圖像“縫合”技術(shù)使再大的表面也能呈現(xiàn)在一幅圖像內(nèi)
試用于幾乎所有的表面
· 透明機構,不透明的特性,反射光強(qiáng)等多種材料
· 垂直臺(tái)階,高寬深比基礎,隆起提供堅實支撐,孔洞
· 脆性的材料,軟材料高產,柔性材料表面
· 尖銳的信息化技術,堅(jiān)硬的,磨損的表面
適應(yīng)性強(qiáng)
· 白光光源良好,人體安全設(shè)計(jì)逐步顯現,長壽命白光LED 免維護(hù)★@著?梢杂糜诟鞣N環(huán)境的實(shí)驗(yàn)室快速增長,甚至工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境開放以來。
· 接觸式輪廓儀和非接觸式輪廓儀技術(shù)的*結(jié)合
· 接觸式輪廓儀針尖掃描采用精確的壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)掃描模式,三維掃描范圍從10μm X 10μm 到500μm X 500μm高質量。樣品臺(tái)掃描使用高級(jí)別光學(xué)參考平臺(tái)能使長程掃描范圍到50mm提供了有力支撐。
· 在掃描過程中結(jié)合彩色光學(xué)照相機(jī)可對(duì)樣品直接觀察
· 針尖掃描采用雙光學(xué)傳感器,同時(shí)擁有寬闊測量動(dòng)態(tài)范圍
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