IC卡芯片檢測設(shè)備解決方案，銀聯(lián)卡芯片檢測儀器，智能卡芯片壓力測試機(jī)有力扭轉，非接觸式卡三輪測試
一上高質量、IC卡芯片檢測設(shè)備/銀聯(lián)卡芯片檢測儀器用途：
我公司專業(yè)生產(chǎn)、研發(fā)和銷售物理力學(xué)性能試驗(yàn)設(shè)備廣度和深度，公司生產(chǎn)的力學(xué)試驗(yàn)機(jī)系列產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于各種行業(yè)做理化檢測之用深入交流。是專業(yè)研發(fā)、設(shè)計(jì)加強宣傳、制造的IC卡動態(tài)反復(fù)彎曲扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)廠家臺上與臺下。本產(chǎn)品適用于軌道交通卡、銀行磁卡技術發展、醫(yī)療保險(xiǎn)卡集聚效應、智能卡、地鐵卡重要手段、通訊卡互動講、公交卡、會員卡等系列磁卡的反復(fù)彎曲扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)損耗，主要用于大專院校相貫通、科研單位、質(zhì)量檢測中心積極影響、企業(yè)單位品質(zhì)檢測部門自動化方案、實(shí)驗(yàn)室等磁卡的物理力學(xué)性能、工藝性能的測試和分板研究越來越重要，深受廣大用戶青睞線上線下。
二、IC卡芯片檢測設(shè)備/銀聯(lián)卡芯片檢測儀器介紹：
該儀器主要用于測試IC卡的彎曲醒悟、扭矩試驗(yàn)數據顯示，符合國標(biāo)GB/T 16649.1，國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)也逐步提升。該試驗(yàn)機(jī)工位為15工位記得牢，其中5工位為長邊彎曲，5工位為短邊彎曲重要的作用，5工位為扭曲試驗(yàn)更多可能性。將計(jì)數(shù)次數(shù)增加到9999次，計(jì)數(shù)方法采用非接處光電計(jì)數(shù)(傳統(tǒng)采用開關(guān)量計(jì)數(shù))足夠的實力，將故障率幾乎降為0,彎曲量和扭轉(zhuǎn)角度任意可調(diào)緊迫性。
三結構、IC卡芯片檢測設(shè)備/銀聯(lián)卡芯片檢測儀器技術(shù)參數(shù)：
1.測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
2.測試周期：1~9999次
3.扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm
4.正反向各15°，總扭曲角度30°
5.夾具安裝尺寸*按照國家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行高效。
6.外形尺寸：670×380×220mm
7.儀器重量：約70kg
四溝通協調、IC卡芯片檢測設(shè)備/銀聯(lián)卡芯片檢測儀器三輪測試：
三輪測試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對卡進(jìn)行三輪測試，適用于對識別卡體系、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測試保障性，將芯片卡放在機(jī)器測試滾輪之間，將芯片在三個(gè)鋼制滾輪間循環(huán)測試100次責任製，芯片前方滾動50次十分落實，芯片后方滾動50次，循環(huán)頻率為0.5Hz促進善治，并在芯片上加一個(gè)10N的力擴大，經(jīng)過往復(fù)循環(huán)測試后驗(yàn)證ICC觸點(diǎn)芯片功能是否正常多樣性。測試儀配有額外的一個(gè)15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)*的測試發揮效力。
五、IC卡芯片檢測設(shè)備/銀聯(lián)卡芯片檢測儀器三輪壓力測試主要技術(shù)參數(shù)：
1.型號：UHICC
2.測試輪循環(huán)次數(shù)：前后循環(huán)各50次
3.測試標(biāo)準(zhǔn)參考: Mcd
4.CQM測試標(biāo)準(zhǔn)參考: P-22
5.測試方法參考: 10.3.22
6.CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2
7.電源: 110-220 V 50/60 Hz.
8.執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17554. 3-2006
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