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隨著半導體器件的日益普及和廣泛應用，在低損耗左右、低感量背景下、高功率密度、高散熱性能可靠保障、高集成度自然條件、多功能等方向發(fā)展需求下，半導體器件封裝和微電子組裝以及近年來衍生出的先進封裝技術(shù)顯得尤為重要開展。9月13日互動互補，第十七屆中國SMT學術(shù)會議暨半導體器件封裝與微電子組裝工藝技術(shù)論壇在成都成功舉辦。

現(xiàn)場精彩

本屆會議聚焦最新的半導體器件封裝與微電子組裝技術(shù)意向，探討技術(shù)發(fā)展深入實施，促進行業(yè)內(nèi)半導體器件封裝與微電子組裝技術(shù)廣泛交流與進步。

領拓在現(xiàn)場領拓儀器作為行業(yè)內(nèi)的分析檢測設備代理商隆重出席本屆會議發展空間，并攜帶了DVM6超景深數(shù)碼3D視頻顯微鏡驚喜亮相現(xiàn)場效果，讓參會人員能近距離接觸設備，吸引眾多觀眾在領拓展臺駐足停留足了準備。

本次會議領拓儀器提供了電鏡觀察及前處理合作關系、力學分析、形貌表征及元素分析深刻內涵、粒徑分布傳遞、成分分析等半導體分析檢測方案。

領拓儀器時刻關(guān)注半導體領域的新動態(tài)和發(fā)展深入闡釋，通過強有力的資源整合為高邢嚓P性？蒲袉挝缓桶雽w行業(yè)提供半導體分析檢測解決方案。

參會設備

01 Leica DVM6 超景深視頻顯微鏡

一款多功能視頻顯微鏡提高，可以用在檢測分析可以使用，質(zhì)量控制，失效分析紮實，研發(fā)產(chǎn)品等領域的測量分析效高化。集成的照明和復消色差物鏡確保了高品質(zhì)的圖像。可用DVM6的支架傾斜功能來觀察樣品的側(cè)面信息創造，通過支架的±60°傾斜不難發現，可以對樣品進行360°觀察；利用景深合成可對特征進行3D尺寸的測量設備製造。顯微鏡的編碼功能使得測量結(jié)果很容易重現(xiàn)發展需要，報告和文檔都可以一鍵生成。

02 Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀

可制備橫切面和拋光表面管理，用于掃描電子顯微鏡 (SEM)顯示、微觀結(jié)構(gòu)分析 (EDS、WDS效率和安、Auger設計能力、EBSD) 和 AFM 科研工作。一次可處理樣品多達 3 個深入開展， 并可在同一個載物臺上進行橫切和拋光更為一致。可安全建議、高效地將樣品傳輸至后續(xù)的制備儀器或分析系統(tǒng)品率。

03 Leica EM TXP 精研一體機

一款可對目標區(qū)域進行準確定位的表面處理工具，特別適合于SEM不斷發展，TEM及LM觀察之前對樣品進行切割積極影響、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高難度樣品緊密協作，如需要對目標精細定位或需對肉眼難以觀察的微小目標進行定點處理重要手段。有了 Leica EM TXP，這些工作就可輕松完成穩定性。