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LS 13 320 XR  貝克曼庫爾特激光衍射粒度分析儀

貝克曼庫爾特新一代LS 13 320 XR將激光衍射粒度分析提升到了一個更高的水平真諦所在，升級版PIDS專項技術指導、優(yōu)化的132枚檢測器，保證了儀器分辨率更高充分，結果更準確進一步完善，再現(xiàn)性更好。

產品描述

LS 13 320 XR  貝克曼庫爾特激光衍射粒度分析儀將激光衍射粒度分析提升到了一個更高的水平競爭力，升級版PIDS專項技術調整推進、優(yōu)化的132枚檢測器，保證了儀器分辨率更高敢於挑戰，結果更準確不斷創新，再現(xiàn)性更好。您不僅可以測量粒徑范圍更寬的顆粒提供了遵循，而且可以更快地檢測到顆粒粒徑間極細微的差異參與水平。PIDS技術，真正實現(xiàn)10nm粒徑測量服務效率；新型的干情況較常見、濕進樣模塊，“即插即用”主要抓手，滿足不同的分析要求體製，靈活便利；直觀的軟件和觸摸屏設計創新科技，大大簡化了儀器的操作服務延伸，僅需點擊幾次便可獲得所需數據。LS 13 320 XR將為您帶來測量的新體驗具有重要意義！

主要特點

• 優(yōu)于ISO 13 320技術標準
• 符合FDA的21 CFR Part 11標準
• 檢測器數量更多進一步，高達132枚獨立物理位置檢測器，對應高達136個真實數據通道強大的功能，能夠清晰區(qū)分不同粒度等級間散射光強譜圖差異實際需求，確保不缺漏絲毫信息解決方案，快速、準確的真實粒度測量善謀新篇。
• 專項設計的“X”型對數排布檢測器陣列增產，可以準確記錄散射光強信號，不管單峰方法、多峰行動力，準確分析粒度分布。
• 全自動運算分析功能切實把製度，多峰自動檢測保供，無需事先猜測峰型，無需選擇分析模型進行部署，提供客觀的報告責任。
• 升級版PIDS技術提供創(chuàng)新的高分辨率納米粒度分析功能，真正實現(xiàn)10nm下限峰值測量保護好。
• PIDS技術不僅可以直接檢測小至10 nm的顆粒勞動精神，而且還可以直接檢測納米級的多峰分布。
• 納米分析功能與微米分析功能合二為一製度保障，功能強大預下達，真正10nm的測量可使其作為獨立的高分辨率納米粒度分析儀使用。
• 新一代固體激光光源統籌推進，無需預熱方案，7萬小時以上開機使用壽命 。
• 并行式信號采集與傳輸了解情況，確保信號保持高信噪比深入、無時差、高通量重要的。
• 多波長和偏振光分析技術令粒度分布在寬動態(tài)范圍內的準確性分析獲得高度保障開展研究。
• 多種自動化樣品分散系統(tǒng)，“即插即用”相互融合，數秒即可完成切換首要任務，高效便利。
• 新一代觸摸屏設計ADAPT分析軟件不同需求，操作更直觀發展，無需操作經驗，簡單三步完成測量總之，直觀醒目的導航輪面向，僅需一步實現(xiàn)數據顯示與導出。
• ADAPT軟件自動對測量結果標準綠色或紅色，自動合格/不合格管理建設項目，實現(xiàn)直接質控最為突出。
• 軟件配有強大的光學參數數據庫，具有創(chuàng)新的“Zero-Time”即時光學模型系統(tǒng)相結合，只需一秒即可建立新的光學模型高效化，提供客觀準確的分析報告。
• 儀器配有自檢診斷功能更多的合作機會，測試過程中隨時顯示測量情況。

技術參數：

• 粒徑范圍：10納米-3500微米 （峰值）
• 主光路激光光源：光纖連接的固體激光器
• 檢測器：132枚獨立物理角度檢測器
• 真實分析通道：136個
• 多波長測量：475nm認為、613nm服務好、785nm及900nm
• 光學理論模型：全程Mie理論；Fraunhofer理論
• 準確性誤差：小于+/- 0.5%
• 重現(xiàn)性誤差：小于+/- 0.5%