目錄:廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司>>白光干涉薄膜厚度儀>> 白光干涉薄膜厚度測量儀Delta
| 參考價(jià) | 面議 |
| 參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間：2021-01-21 13:16:05瀏覽次數(shù)：1679評(píng)價(jià)
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是儀器網(wǎng)上看到的信息方法，謝謝!
白光干涉薄膜厚度測量儀Delta利用薄膜干涉光學(xué)原理不負眾望，對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面調解製度，探頭同位接收反射光線精準調控。白光干涉薄膜厚度測量儀Delta根據(jù)反射回來的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度應用的因素之一。測量范圍1nm-3mm解決，可同時(shí)完成多層膜厚的測試。對(duì)于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值集成技術。
產(chǎn)品特點(diǎn)
快速就能壓製、準(zhǔn)確、無損適應能力、靈活、易用各方面、性價(jià)比高
應(yīng)用領(lǐng)域
半導(dǎo)體（SiO2/SiNx防控、光刻膠、MEMS適應性，SOI等） LCD/TFT/PDP(液晶盒厚堅實基礎、聚亞酰胺ITO等) LED (SiO2、光刻膠ITO等）
觸摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率測試等) 汽車(防霧層方法、Hard Coating DLC等） 醫(yī)學(xué)（聚對(duì)二甲苯涂層球囊/*壁厚藥膜等）
型號(hào) | Delta-VIS | Delta-DUV | Delta-NIR |
波長范圍 | 380-1050nm | 190-1100nm | 900-1700nm |
厚度范圍 | 50nm-40um | 1nm-30um | 10um-3mm |
準(zhǔn)確度1 | 2nm | 1nm | 10nm |
精度 | 0.2nm | 0.2nm | 3nm |
入射角 | 90° | 90° | 90° |
樣品材料 | 透明或半透明 | 透明或半透明 | 透明或半透明 |
測量模式 | 反射/透射 | 反射/透射 | 反射/透射 |
光斑尺寸2 | 2mm | 2mm | 2mm |
是否能在線 | 是 | 是 | 是 |
掃描選擇 | XY可選 | XY可選 | XY可選 |
注：1.取決于材料0.4%或2nm之間取較大者行動力。
2. 可選微光斑附件。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
員.png)
6
儀器網(wǎng)