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目錄:北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司>>半導(dǎo)體封裝材料測(cè)試系統(tǒng)>> HC-TSC半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC熱刺激測(cè)試系統(tǒng)

半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC熱刺激測(cè)試系統(tǒng)
  • 半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC熱刺激測(cè)試系統(tǒng)
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參考價(jià) 40000
訂貨量 ≥1臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
40000
≥1臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌
  • 型號(hào) HC-TSC
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市
屬性

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更新時(shí)間:2024-12-11 10:36:47瀏覽次數(shù):52評(píng)價(jià)

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半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC熱刺激測(cè)試系統(tǒng)熱刺激去極化電流(TSDC)技術(shù)用于預(yù)測(cè)EMC的HTRB性能記得牢。TSDC方法包括極化過(guò)程充分發揮,在該過(guò)程中等特點,電介質(zhì)樣品暴露在高電場(chǎng)強(qiáng)度和高溫環(huán)境下改進措施。在這種情況下,電荷被分離并在介電材料電子元件中移動(dòng)不要畏懼。


半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC熱刺激測(cè)試系統(tǒng)


半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC熱刺激測(cè)試系統(tǒng)


產(chǎn)品介紹:


研究前景:

環(huán)氧塑封料(EMC, Epoxy Molding Compound)是用于半導(dǎo)體封裝的一種熱固性化學(xué)材料問題,是由環(huán)氧樹脂為基體 樹脂逐漸顯現,以高性能酚醛樹脂為固化劑,加入硅微粉等為填料系統穩定性,以及添加多種助劑混配而成的粉狀模塑料拓展基地,為后道封裝的主要原材料之一,目前95%以上的微電子器件都是環(huán)氧塑封器件實力增強。環(huán)氧塑封料具有保護(hù)芯片不受外界環(huán)境的影響體系流動性,抵抗外部溶劑、濕氣帶來全新智能、沖擊實現了超越,保證芯片與外界環(huán)境電絕緣等功能。環(huán)氧塑封料對(duì)高功率半導(dǎo)體器件的高溫反向偏壓(HTRB)性能有重要控制作用去完善。


產(chǎn)品概述:

熱刺激去極化電流(TSDC)技術(shù)用于預(yù)測(cè)EMC的HTRB性能橋梁作用。TSDC方法包括極化過(guò)程,在該過(guò)程中求索,電介質(zhì)樣品暴露在高電場(chǎng)強(qiáng)度和高溫環(huán)境下讓人糾結。在這種情況下,電荷被分離并在介電材料電子元件中移動(dòng)穩定發展。盡管單個(gè)TSDC信號(hào)和HTRB性能之間的相關(guān)性表明基石之一,極化峰值越

高,TSDC曲線越大增持能力,而HTRB性能越差共同努力,但這并不能wanquan解釋EMC在發(fā)出強(qiáng)放電信號(hào)時(shí)的某些故障行業內卷。因此,弛豫時(shí)間是解釋外層HTRB失效樣本的另一個(gè)關(guān)鍵參數(shù)很重要。

關(guān)于環(huán)氧塑封料(EMC技術節能, Epoxy Molding Compound)TSDC測(cè)試技術(shù),為華測(cè)公司在國(guó)內(nèi)最早提及目前已被廣泛應(yīng)用到更多的半導(dǎo)體封裝材料及半導(dǎo)體生產(chǎn)研發(fā)企業(yè)廣泛認同。已證明此測(cè)試方式是有效的國際要求,同時(shí)加速國(guó)產(chǎn)化IGBT、MOSFET等功率器件的研發(fā)鍛造。如無(wú)錫凱華競爭激烈、中科科化、飛凱材料等企業(yè)改善。


應(yīng)用場(chǎng)景:

材料研發(fā)與性能評(píng)估:介電材料研究空白區、絕緣材料評(píng)估、半導(dǎo)體材料分析信息化;電子元器件與封裝技術(shù):元器件可靠性測(cè)試形勢、封裝材料選擇、封裝工藝優(yōu)化取得明顯成效;電力與能源領(lǐng)域:電力設(shè)備絕緣監(jiān)測(cè)約定管轄、儲(chǔ)能材料研究;其他領(lǐng)域:生物分子材料研究創新的技術、環(huán)境監(jiān)測(cè)與保護(hù)發揮;半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC熱刺激測(cè)試系統(tǒng)在材料研發(fā)、電子元器件與封裝技術(shù)快速增長、電力與能源領(lǐng)域以及其他多個(gè)領(lǐng)域都具有廣泛的應(yīng)用前景開放以來。隨著技術(shù)的不斷發(fā)展,TSDC測(cè)試系統(tǒng)將在更多領(lǐng)域發(fā)揮重要作用高質量。


產(chǎn)品原理:

TSDC是一種研究電荷存儲(chǔ)特性的實(shí)驗(yàn)技術(shù)提供了有力支撐,用于確定初始電荷和捕獲電荷的活化能以及弛豫,該方法包括一個(gè)極化過(guò)程前景,其中介電樣品在高溫下暴露于高電場(chǎng)強(qiáng)度下意見征詢。在此之后,試樣在外加電場(chǎng)的作用下迅速進(jìn)行冷卻大大提高。以這種方式的必然要求,電荷被分離并固定在介電材料駐極體內(nèi)。然后進(jìn)行升溫將駐極體內(nèi)的電荷進(jìn)行釋放取得了一定進展,同時(shí)配合測(cè)量?jī)x器進(jìn)行測(cè)量完善好,并為科研人員進(jìn)行分析。通過(guò)TSDC測(cè)試方法研究了EMC對(duì)功率半導(dǎo)體HTRB可靠性的影響積極參與,了解到EMC在高溫活動上、高壓條件下會(huì)發(fā)生電極化或電取向有望。此外,依賴于在相應(yīng)的冷卻環(huán)境中維持其極化狀態(tài)導向作用,它會(huì)干擾MOS-FET半導(dǎo)體中反轉(zhuǎn)層的正常形成方案。通過(guò)TSDC試驗(yàn),我們還了解了在可靠性測(cè)試中由于應(yīng)用條件而導(dǎo)致的材料內(nèi)部極化電荷的數(shù)量也是一個(gè)重要的影響因素十大行動。

半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC熱刺激測(cè)試系統(tǒng)

半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC熱刺激測(cè)試系統(tǒng)


1左右、消除電網(wǎng)諧波對(duì)采集精度的影響

在超高阻、弱信號(hào)測(cè)量過(guò)程中綜合措施、輸入偏置電流和泄漏電流都會(huì)引起測(cè)量誤差可靠保障。同時(shí)電網(wǎng)中大量使用變頻器等高頻、高功率設(shè)備設計標準,將對(duì)電網(wǎng)造成諧波干擾開展。以致影響弱信號(hào)的采集,華測(cè)儀器公司推出的抗干擾模塊以及用最新測(cè)試分析技術(shù),實(shí)現(xiàn)了高達(dá)1fA(10-15 A)的測(cè)量分辨率,從而滿足了很多半導(dǎo)體,功能材料和納米器件的測(cè)試需求發揮重要帶動作用。


半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC熱刺激測(cè)試系統(tǒng)


2意向、消除不規(guī)則輸入的自動(dòng)平均值功能,更強(qiáng)數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽


半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC熱刺激測(cè)試系統(tǒng)


自動(dòng)平均值是檢測(cè)電流的變化,并自動(dòng)將其進(jìn)行平均化的功能文化價值, 在查看測(cè)量結(jié)果的同時(shí)不需要改變?cè)O(shè)置形式。通過(guò)自動(dòng)排除充電電流的過(guò)渡響應(yīng)時(shí)或接觸不穩(wěn)定導(dǎo)致偏差較大。電流輸入端口全新采用大口徑三軸連接器非常重要,是將內(nèi)部屏蔽連接至GUARD(COM)線進一步提升,外部屏蔽連接至GROUND的3層同軸設(shè)計(jì)空間廣闊。兼顧抗干擾的穩(wěn)定性和高壓檢查時(shí)的安全性營造一處。

3、更強(qiáng)大的操作軟件

測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái) Huacepro 知識和技能,基于labview系統(tǒng)開發(fā)取得顯著成效,符合功能材料的各項(xiàng)測(cè)試需求,具備強(qiáng)大的穩(wěn)定性與操作安全性實現,并具備斷電資料的保存功能不容忽視,圖像資料也可保存恢復(fù)。支持最新的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)服務體系,兼容XP說服力、win7、win10系統(tǒng)分析。

半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC熱刺激測(cè)試系統(tǒng)


4新體系、更強(qiáng)大的硬件配置

半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC熱刺激測(cè)試系統(tǒng)


5、可擴(kuò)展的測(cè)量模式

半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC熱刺激測(cè)試系統(tǒng)


產(chǎn)品曲線:

半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC熱刺激測(cè)試系統(tǒng)


半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC熱刺激測(cè)試系統(tǒng)


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產(chǎn)品參數(shù):

設(shè)備型號(hào)HC-TSC

溫度范圍-185 ~ 600°C

控溫精度±0.25°C

升溫斜率10°C/min(可設(shè)定)

測(cè)試頻率最大電壓:±10kV

加熱方式直流電極加熱

冷卻方式水冷

樣品尺寸φ<25mm創造,d<4mm

電極材料黃銅或銀;

夾具輔助材料 99氧化鋁陶瓷

低溫制冷液氮

測(cè)試功能 TSDC

數(shù)據(jù)傳輸RS-232  

設(shè)備尺寸 180 x 210 x 50mm





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