首頁(yè) >> 公司動(dòng)態(tài) >> 華測(cè)儀器表面電位衰減測(cè)試系統(tǒng)-新品上市
表面電位衰減測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品介紹
本表面電位衰減測(cè)試系統(tǒng)是一款面向材料電學(xué)特性研究的高精度物聯與互聯、多功能分析設(shè)備,專為評(píng)估介質(zhì)材料表面電荷動(dòng)態(tài)衰減行為及陷阱能級(jí)分布而設(shè)計(jì)改造層面。系統(tǒng)集高壓極化供給、精準(zhǔn)溫控、快速信號(hào)采集及智能化分析于一體經驗分享,支持針解決方案、柵、板三種電極配置有力扭轉,可模擬不同溫濕度環(huán)境下的材料電荷動(dòng)態(tài)響應(yīng)上高質量,為絕緣材料、功能薄膜廣度和深度、電子器件等領(lǐng)域的研發(fā)與質(zhì)量控制提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持著力增加。
表面電位衰減是通過(guò)電暈放電給絕緣材料表面進(jìn)行充電智能化,充電過(guò)程中電暈中的電荷會(huì)進(jìn)入材料內(nèi)部√幚?;谙葳謇碚摻ㄔO,這些空間電荷會(huì)被材料內(nèi)部的陷阱所捕獲形成表面電位。材料另一面與地電極相連助力各行,在撤去外加電壓后電荷逐漸脫陷從而形成電位衰減過(guò)程前來體驗。電位的衰減主要是由于充電過(guò)程中的入陷電荷通過(guò)電荷輸運(yùn)流入地電極形成的。
系統(tǒng)基于表面電荷動(dòng)態(tài)衰減法確定性,通過(guò)以下步驟實(shí)現(xiàn)材料陷阱特性分析:
① 高壓極化:施加±30 kV電壓使樣品表面帶電更加廣闊,形成初始電位;
② 環(huán)境模擬:加熱臺(tái)精確控溫(±0.2℃)講故事,電極箱調(diào)節(jié)濕度非常完善,模擬實(shí)際工況;
③ 電位監(jiān)測(cè):極化結(jié)束后自動化方案,實(shí)時(shí)采集表面電位衰減信號(hào)(精度1 V緊密協作,頻率>1 Hz),記錄電位-時(shí)間曲線線上線下;
④ 數(shù)據(jù)分析:內(nèi)置算法解析衰減速率發揮重要作用、陷阱深度及密度分布,量化材料電荷存儲(chǔ)與遷移特性數據顯示。
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