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Agilent 8900 ICP-MS/MS 分析10nm金納米顆粒
根據(jù)歐盟委員會 (EC) 建議 (2011/696/EU)，出于監(jiān)管的目的結構不合理，納米材 料是“含有呈未結合態(tài)動手能力、聚集體或聚結物顆粒的天然材料、人為偶發(fā) 材料或制造材料意見征詢，其中 50% 以上顆粒的粒徑分布數(shù)量中提升，三維尺寸 至少有一維介于 1 nm-100 nm 之間”[1]。具有納米級外形尺寸或內部 結構的材料表現(xiàn)出材料宏觀尺度形態(tài)中不存在的*性質的必然要求。
極小顆粒 (< 20 nm) 的檢測對于 spICP-MS 仍 然具有挑戰(zhàn)性研究成果，因為由此類顆粒產(chǎn)生的信號較低。 spICP-MS 中測得的信號基于每個顆粒中存在的離子 數(shù)量完善好，這一數(shù)量與顆粒質量成正比大面積。但由于顆粒質 量隨直徑的三次方而減小，因此粒徑減半(例如問題分析， 從 60 nm 減小至 30 nm)將導致質量與理論信號減 少為原始值的 1/8培養。同樣地，15 nm 顆粒的信號僅 為 60 nm 顆粒的 1/64更加完善。因此形式，具有*靈敏度和極 低背景的儀器對于支持較小粒徑的檢測和分析至關 重要。 Agilent 8900 串聯(lián)四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS) 具有 低背景 (< 0.2 cps) 和高達 Gcps/ppm 的靈敏度支撐作用，非 常適合小顆粒檢測日漸深入。此外，8900 系統(tǒng)能夠以極短的 (0.1 ms) 駐留時間運行同時，支持非郴邮叫v？焖俚臅r間分辨 分析 (TRA) 采集，從而可提高信噪比建言直達。
Agilent 8900 ICP-MS/MS 的低背景和高靈敏度使其適 合對含極小粒徑納米顆粒的溶液進行單顆粒分析多種。 本研究對粒徑 10 nm 至zui高 60 nm 金納米顆粒溶液 的粒徑和組成進行了表征將進一步，獲得了良好的準確度充分發揮。 估算得出顆粒直徑的實際檢測限為 6.5 nm，BED 為 3 nm成就。本研究還對 10 nm重要方式、30 nm 和 60 nm 的納米顆 粒混合溶液進行了準確的粒徑分析系統，獲得了良好的 分辨率非常重要。 采用 ICP-MS MassHunter 軟件的可選單納米顆粒應 用模塊有利于整個納米顆粒測定過程。該方法為直 徑低至 10 nm 的 Au 納米顆粒提供了快速且準確的 測定結果空間廣闊。
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