TX 2000 全反射X熒光光譜儀研究進展，由于采用此種近于切線方向的入射角，原級X光束幾乎可以全部被反射機遇與挑戰，照射在樣品表面后廣泛關註，可以zui大程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發(fā)生，同時減小了載體的背景和噪聲“集成技術。

　　全反射X熒光光譜儀應用范圍
　　
　　TX2000 可檢測從Na到Pu所有元素含量就能壓製，可進行痕量或超痕量元素分析（ppt或pg），廣泛的應用在環(huán)境分析（水適應能力、灰塵更優美、沉積物、大氣懸浮物）防控，制藥分析（生物體液和組織樣品中的有害元素）成效與經驗，法醫(yī)學（微小證據(jù)分析），化學純度分析（酸堅實基礎、堿稍有不慎、鹽、溶劑等地、水相關性、超純試劑），油品分析（原油物聯與互聯、輕質(zhì)油、燃料油）改造層面，染料分析（墨水供給、油漆、粉末）經驗分享，半導體材料分析（揮發(fā)相分解）解決方案，核材料工業(yè)（放射性元素分析）。
　　
　　主要特點
　　
　　■ 單內(nèi)標校正有力扭轉，極大的簡化了定量分析上高質量，無基體影響一站式服務；
　　
　　■ 對于任何基體的樣品可單獨進行校準和定量分析；
　　
　　■ 多元素實時分析深入交流，可進行痕量和超痕量分析引領作用；
　　
　　■ 不受樣品的類型和不同應用需求影響；
　　
　　■ *的液體或固體樣品的微量分析臺上與臺下，分析所需樣品量杏玫氖嫘?。?br />　　
　　■ you秀的檢出限水平助力各行，元素分析范圍從鈉覆蓋到钚前來體驗；
　　
　　■ 出色的動態(tài)線性范圍；
　　
　　■ 無需任何化學前處理確定性，無記憶效應更加廣闊；
　　
　　■ 非破壞性分析，運行成本低廉講故事。