磁滯回線測量儀 TTT-PMA Checker
從當(dāng)下主流的機(jī)械硬盤重要作用，到未來的磁性存儲(chǔ)單元等地，磁滯回線測量都是評估薄膜性質(zhì)的重要手段。相較于電學(xué)霍爾測量和震動(dòng)磁強(qiáng)計(jì)尤為突出，磁光磁克爾效應(yīng)具有測量速度快規定，精度高，非侵入空間載體，且不需要對樣品進(jìn)行加工或切片等操作的特點(diǎn)高質量。
通過對磁滯回線的分析，用戶不但可以得到矯頑力及相對磁化強(qiáng)度等信息重要組成部分，亦可了解磁性薄膜磁各向異性等性質(zhì)流程。針對不同矯頑力的多層磁性薄膜結(jié)構(gòu)，

從當(dāng)下主流的機(jī)械硬盤勃勃生機，到未來的磁性存儲(chǔ)單元助力各業，磁滯回線測量都是評估薄膜性質(zhì)的重要手段。相較于電學(xué)霍爾測量和震動(dòng)磁強(qiáng)計(jì)提供有力支撐，磁光磁克爾效應(yīng)具有測量速度快應用，精度高，非侵入品率，且不需要對樣品進(jìn)行加工或切片等操作的特點(diǎn)相貫通。

通過對磁滯回線的分析，用戶不但可以得到矯頑力及相對磁化強(qiáng)度等信息積極影響，亦可了解磁性薄膜磁各向異性等性質(zhì)自動化方案。針對不同矯頑力的多層磁性薄膜結(jié)構(gòu)緊密協作，磁光克爾測量可以分析出逐層的磁滯回線信息。

托托科技磁滯回線測量儀

8 s一條磁滯回線

小巧便捷

集成度高

操作簡單

托托科技推出的磁滯回線測量儀線上線下，以其緊湊的設(shè)計(jì)發揮重要作用、精確的測試結(jié)果、強(qiáng)大的磁場強(qiáng)度和便捷的數(shù)據(jù)采集功能過程中，滿足了實(shí)驗(yàn)室研究和工業(yè)生產(chǎn)中對各種磁性薄膜材料測試的需求去突破。我們提供的一站式解決方案包括控制盒、磁光主體和上位機(jī)達到，形成一套完整的設(shè)備，無需額外的電表或電源不可缺少，即可輕松進(jìn)行磁滯回線測量蓬勃發展。此外，設(shè)備還預(yù)留了信號讀取和TTL觸發(fā)接口提高鍛煉，方便用戶使用自己的鎖相放大器（例如SRS系列或 Zurich MFLI系列）進(jìn)行數(shù)據(jù)采集發展邏輯。

產(chǎn)品介紹

應(yīng)用示例

自旋/磁電子學(xué) 磁性納米技術(shù) 非易失性磁性隨機(jī)存儲(chǔ)器 磁阻研究 磁性薄膜 磁性傳感器

構(gòu)成清單

光磁主體 控制盒 電腦

設(shè)備控制軟件界面

產(chǎn)品定位/推薦

該系統(tǒng)的定位是為客戶提供穩(wěn)定、快捷磁滯回線測量設(shè)備有所提升，如需更多附加功能聽得進，例如：磁疇成像，微區(qū)測量先進水平，集成溫控設(shè)備便利性，集成電學(xué)測量設(shè)備，集成樣品掃描成像等選項(xiàng)重要平臺，我們建議客戶考慮TTT-Mag-Kerr Microscope 系列產(chǎn)品深刻認識。

TTT-PMA Checker不具備空間分辨能力，光斑直徑為1毫米應用提升。

測試數(shù)據(jù)

Si 襯底上生長制備MgO (2)/Pt (4)/Co (0.2)/[Ni (0.2)/Co (0.2)]2垂直磁性薄膜基底上濺射不同覆蓋層X（2）/MgO（1）/SiO2（3）（thickness in nm）主動性，其中X = Pt，Cu發展的關鍵，MgO道路，Ir，Ta真諦所在，W指導，以及Hf元素。通過TTT-Mag-PMA Checker/磁滯回線 測量儀對樣品的矯頑力快速檢測得到樣品磁滯回線數(shù)據(jù)倍增效應，快速對比其磁性強(qiáng)度和矯頑力場的區(qū)別規則製定。