透反射明暗場(chǎng)金相顯微鏡MJ33是多用途工業(yè)檢驗(yàn)用光學(xué)儀器，配置明暗場(chǎng)物鏡國際要求、大視野目鏡與簡(jiǎn)易偏光觀察流動性，能提供清晰、大視野的明場(chǎng)競爭激烈、暗場(chǎng)和偏光成像觀察持續創新，并可疊加擴(kuò)展熒光

透反射明暗場(chǎng)金相顯微鏡MJ33是多用途工業(yè)檢驗(yàn)用光學(xué)儀器，配置明暗場(chǎng)物鏡空白區、大視野目鏡與簡(jiǎn)易偏光觀察協調機製，能提供清晰、大視野的明場(chǎng)形勢、暗場(chǎng)和偏光成像觀察實踐者，并可疊加擴(kuò)展熒光。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

可擴(kuò)展的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)

采用無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)約定管轄，切換不同光路不同觀察方式不會(huì)有倍率差異數據，可擴(kuò)展數(shù)顯LED熒光模塊實(shí)現(xiàn)材料學(xué)研究觀察需要。

支持明場(chǎng)發揮、暗場(chǎng)顯著、偏光觀察，可選DIC觀察

搭配明暗場(chǎng)物鏡開放以來，支持透反射明場(chǎng)觀察占、反射暗場(chǎng)觀察和簡(jiǎn)易偏光觀察，還可選配DIC觀察配置結構不合理。

標(biāo)準(zhǔn)科勒照明

標(biāo)準(zhǔn)科勒照明系統(tǒng)動手能力，更方便維護(hù)調(diào)試逐步改善，取得更佳成像效果意見征詢，可用于半導(dǎo)體硅晶片、LCD基板、電路板的必然要求、固體粉末及其它各種透明或不透明工業(yè)試樣的檢驗(yàn)再獲，是生物學(xué)、金屬學(xué)應用擴展、礦物學(xué)體驗區、精密工程學(xué)、電子工程學(xué)等研究的理想儀器活動上。