像差校正光柵光譜儀 Omni-FD系列：北京卓立漢光儀器有限公司推出基于平場光柵的像差校正光柵光譜儀，可以為客戶提供1-80nm信號(hào)測量方案非常激烈，解決 從軟x射線-極紫外-真空紫外信號(hào)分析競爭力所在。

像差校正光柵光譜儀 Omni-FD系列

產(chǎn)品概述

北京卓立漢光儀器有限公司推出基于平場光柵的像差校正光柵光譜儀，可以為客戶提供1-80nm信號(hào)測量方案領域，解決從軟x射線-極紫外-真空紫外信號(hào)分析溝通機製。該譜儀同時(shí)提供相應(yīng)相機(jī)接口，可以配合真空相機(jī)（國產(chǎn)或進(jìn)口）或是MCP板進(jìn)行不同能量信號(hào)的測試註入新的動力☆I先水平？蓱?yīng)用于極紫外信號(hào)標(biāo)定，高次諧波等高能實(shí)驗(yàn)效率和安。

本譜儀提供三種光柵設計能力，可以分別測試1-5nm，5-20nm以及20-80nm的信號(hào)測量深入開展，設(shè)備占空間小更為一致，并且接受個(gè)性化定制，可以完*配合您的實(shí)驗(yàn)空間廣闊。

譜儀基本參數(shù)：

· 入射角度 87度

· 適用設(shè)備 MCP（微通道板）或直接真空相機(jī)

· 真空度 低于10E-5Pa

· 光柵尺寸 50X30mm

· 獨(dú)*的進(jìn)光口設(shè)計(jì)至關重要，可解決入口雜散光干擾問題

· 獨(dú)*的譜線校準(zhǔn)方案

· 根據(jù)測試不同波長能量提供多種光柵

· 探測面可連續(xù)可調(diào)，方便不同探測器焦深

· 獨(dú)*的零級(jí)干擾去除方案

1200g/mm光柵衍射示意圖：

光柵信息：