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KM-PCT-35 PCT高壓蒸煮老化試驗箱

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PCT高壓蒸煮老化試驗箱系列:滿足溫度范圍+105℃~+162.5℃,濕度范圍99%R.H

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英文名稱:High Pressure Cooking Testing Chamber

產品別名:PCT加速老化試驗箱創新延展,高壓蒸煮試驗箱、高溫高壓高濕試驗箱充足、PCT進展情況、高壓蒸煮測試箱、PCT老化箱綠色化發展、飽和高壓老化箱至關重要、飽和高度加速壽命老化箱等可靠性試驗設備。

產品用途

適用于IC 封裝用上了,半導體提升行動,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進行高壓關註、高溫研究進展、飽和濕熱無障礙、等加速壽命信賴性試驗。

應用領域

IC半導體快速融入、連接器認為、線路板、磁性材料增強、高分子材料重要意義、EVA、光伏組件等行業(yè)相關之產品更加廣闊。

產品特點

1.行業(yè)應用的流體仿真設計技術與產品工藝制造技術規劃,產品更節(jié)能。

2.內膽采用雙層圓弧設計,可以防止試驗結露滴水現象可以使用,從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果進入當下。

3.全自動補水功能,前置式水位確認。

產品參數

恒溫恒濕試驗箱

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產品實拍

恒溫恒濕試驗箱


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