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過濾器測試臺Palas MFP

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MFPNanoplus4000帶有U-SMPS的MFPNanoplus4000-使用兩個UF-CPC根據(jù)DINEN1822-3和ISO29463-3標準在原始和清潔氣體中實時測定餾分分離效率,并檢測MMPS范圍? 實時測定10nm以上顆粒的餾分分離效率? 通過測量原始氣體和清潔氣體中的顆粒濃度預下達,可將確定餾分分離效率的時間減少一半

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MFP Nano plus 4000


帶有U-SMPS的MFP Nano plus 4000 -使用兩個UF-CPC根據(jù)DIN EN 1822-3ISO 29463-3標準在原始和清潔氣體中實時測定餾分分離效率逐步改善,并檢測MMPS范圍

? 實時測定10 nm以上顆粒的餾分分離效率
? 通過測量原始氣體和清潔氣體中的顆粒濃度,可將確定餾分分離效率的時間減少一半提升。
? 無需稀釋大大提高!
? 結(jié)合兩種UF-CPC版本,UF-CPC在原始氣體中的*高測量濃度可達2,000,000顆粒/立方厘米(單計數(shù)模式),而UF-CPC 50在低濃度潔凈氣體中的*高計數(shù)率對應(yīng)于稀釋系數(shù)為1:200取得了一定進展。
? 符合DIN EN 1822-3和ISO 29463-3的國際可比較的測量結(jié)果
? 方便地使用不同的測試氣溶膠完善好,例如NaCl / KCl或DEHS(其他可根據(jù)要求提供)
? 方便地測量餾分分離效率并確定MPPS范圍
? 測試方法的高重復(fù)性
? 靈活的過濾器測試軟件FTControl
? 易于操作,即使未經(jīng)培訓的人員也可以快速使用設(shè)備進行操作
? 客戶可以獨立進行清潔
? 設(shè)置時間短積極參與,吞吐時間快
? 可移動設(shè)置問題分析,易于在腳輪上移動
? 在交付前驗收測試和交付時明確驗證各個組件和系統(tǒng)的功能
? 運行可靠
? 幾乎不需要維護
? 減少您的運營費用

Palas®的MFP過濾器測試臺已經(jīng)在開發(fā)和質(zhì)量控制的實際應(yīng)用中在世界各地經(jīng)過多次驗證。

MFP Nanoplus 4000專門設(shè)計用于根據(jù)DIN EN 1822-3和ISO 29463-3標準精確地測定HEPA和ULPA過濾介質(zhì)的分離效率交流研討。

本設(shè)備是一種現(xiàn)代且功能強大的納米顆粒測量設(shè)備更加完善,以U-SMPS形式,進行5 nm到1 µm范圍粒度測量和數(shù)值分析:

使用MFP Nanoplus 4000和UF-CPC冷凝粒子計數(shù)器在原始氣體和清潔氣體中實時測量特定尺寸的分離效率建設應用。

MFP Nanoplus 4000餾分分離效率的實時測量具有以下特殊優(yōu)勢:

? 通過測量原始氣體和清潔氣體中的顆粒濃度支撐作用,可將確定餾分分離效率的測量時間減半。
? 結(jié)合兩種UF-CPC版本動力,UF-CPC在原料氣中的*高測量濃度可達2,000,000顆粒/立方厘米(單計數(shù)模式)同時,而UF-CPC 50在潔凈氣體低濃度下的*高計數(shù)率對應(yīng)于稀釋系數(shù)為1:200。因此生產效率,不再需要常規(guī)的氣溶膠稀釋產能提升。

借助通用氣溶膠發(fā)生器UGF 2000,可以使用DEHS或鹽(NaCl / KCl)生產(chǎn)與MMPS范圍相匹配的氣溶膠分布節點。

測試序列的高度自動化設(shè)置以及清晰定義的單個組件和濾波器測試軟件FTControl的可單獨調(diào)整程序通過活化,共同提供高度可靠的測量結(jié)果。

MFP過濾器測試臺是用于扁平過濾器介質(zhì)和小型微型過濾器的模塊化過濾器測試系統(tǒng)的特點〗】蛋l展?梢栽诤芏痰臅r間內(nèi)確定壓力損失曲線、餾分分離效率或負荷大數據,既可靠又具有成本效益長效機製。

我們的質(zhì)量細節(jié)

1.使用UGF 2000產(chǎn)生多種氣溶膠,用于KCl/NaCl或DEHS數字技術。集成的Nafion干燥系統(tǒng)奮戰不懈。通過質(zhì)量流量控制器單獨調(diào)節(jié)產(chǎn)生的煙霧體積流量。

2.氣溶膠中和:Kr-85-370電源或軟X射線充電器XRC 370電暈放電(可選):可調(diào)節(jié)的離子流適用于不同的質(zhì)量流量知識和技能∪〉蔑@著成效;旌峡諝猓烧{(diào)節(jié)流入速度為1.5至40厘米/秒實現。通過質(zhì)量流量控制器實現(xiàn)監(jiān)視和控制不容忽視。

3.可移動的氣動過濾器支架,用于快速拆卸和裝載帶有集成式DEMC 2000(差動遷移分類器)的試驗臺服務體系。 U-SMPS包含的DEMC 2000(差分電遷移率分類器)對UGF 2000產(chǎn)生的多分散氣溶膠粒徑進行分類說服力。在DEMC 2000的下游僅包含單分散顆粒搶抓機遇。DEMC 2000自動調(diào)節(jié)相關(guān)粒徑控制單元。

4.使用UF-CPC 200進行高濃度原始氣體測量表示。為了測量原始氣體中的顆粒數(shù)全面闡釋,UF-CPC 200冷凝顆粒計數(shù)器在單計數(shù)模式下被用于計數(shù)高達2,000,000個顆粒/立方厘米的顆粒。這意味著在濃度原始氣體測量中不需要稀釋系統(tǒng)拓展基地。無需長時間或復(fù)雜地清潔系統(tǒng)集中展示。

5. 使用UF-CPC 50對低濃度進行清潔氣體數(shù)值分布測量
“全流量” UF-CPC 50,針對清潔氣體中的低顆粒濃度(單計數(shù)模式體系流動性,*大10,000個顆粒/ cm3)進行了優(yōu)化探索創新。
在UF-CPC的“全流量”顆粒測量中,對整個采樣體積流量進行了全面分析。這意味著在清潔氣體中低顆粒濃度下可以實現(xiàn)很高的計數(shù)率實現了超越。

Palas®過濾器測試軟件FTControl控制U-SMPS并評估數(shù)據(jù)新產品。

將氣溶膠分布調(diào)整到MPPS范圍
通過適當調(diào)整溶液濃度,可以將生成的粒度分布與MFP Nano + 4000中的相關(guān)MPPS范圍相匹配橋梁作用。

圖1:使用DEHS調(diào)節(jié)所需MPPS范圍的粒徑

圖2:在>=140 nm的MPPS范圍內(nèi)的餾分分離效率比較長遠所需。

? 清晰展示整個測量范圍內(nèi)過濾介質(zhì)的分離效率。
? 精確測定MPPS范圍讓人糾結。
? *高的測量重現(xiàn)性和可重復(fù)性突顯分離效率的微小差異規模。
? 優(yōu)化的氣溶膠應(yīng)用,使每次分離效率測量的測量時間短至兩分鐘基石之一。
? 分離效率曲線的簡單比較聯動,也可以計算平均值

自動化

MFP Nano + 4000集成質(zhì)量流量控制器,用于控制體積流量共同努力;可以通過FTControl過濾器測試軟件進行自動監(jiān)視和控制行業內卷。

在過濾器測試期間,還會自動記錄傳感器數(shù)據(jù)逐漸完善,例如過濾器的體積流量和壓差的過程中。

驗證原始氣體和清潔氣體中的采樣是否合格:在初始培訓過程中,將演示未經(jīng)過濾的原始氣體和清潔氣體測量符合性驗證廣泛關註。

使用MFP Nano + 4000促進進步,可以在MPPS范圍內(nèi)以及整個測量范圍內(nèi)進行餾分分離效率測量。另外優勢領先,在相關(guān)的流入速度下清楚地確定介質(zhì)的相關(guān)壓力損失迎來新的篇章。



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