WH91單鐵基分體測厚儀是威福研發(fā)生產(chǎn)的一種帶線的延長探頭測凹槽面更加方便了道路，還有一些桌面底下性能，窗外測不到的地方，用這種帶探頭的測量非常方便對外開放，可滿足客戶的不同需求

WH91單鐵基分體測厚儀是威福研發(fā)生產(chǎn)的一種帶線的延長探頭測凹槽面更加方便了技術創新，還有一些桌面底下深入交流研討，窗外測不到的地方，用這種帶探頭的測量非常方便廣泛應用，可滿足客戶的不同需求關註度。

WH91單基涂層測厚儀的技術(shù)參數(shù)如下所示

WH91單鐵基分體涂層測厚儀的產(chǎn)品特點

1、具有電源欠壓指示功能

2哪些領域、操作過程有蜂鳴聲提示

3敢於挑戰、能快速自動識別鐵基體與非鐵基體

4、設(shè)有兩種關(guān)機方式：手動關(guān)機方式和自動關(guān)機方式;

5建立和完善、有負數(shù)顯示功能提供了遵循，保證儀器在零位點的校準準確性;

6、采用了磁性測厚方法大型，適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量服務效率。導(dǎo)磁材料一般為：鋼、鐵重要意義、銀統籌發展、鎳。

7構建、可采用單點校準和兩點校準兩種方法對儀器進行校準創新科技，并可用基本校準法對測量頭的系統(tǒng)誤差進行修正，保證儀器在測量過程中儀器的準確性;

WH91單鐵基分體涂層測厚儀的使用說明

1)開機

按下 ON 鍵后儀器聽到一聲鳴響共創輝煌，自動恢復(fù)上次關(guān)機前的參數(shù)設(shè)置后具有重要意義，將顯示0.0μm，儀器進入待測狀態(tài)大部分姶蟮墓δ?？蓽y量工件了。經(jīng)過一段時間不使用儀器將自動關(guān)機解決方案。

2)關(guān)機

在無任何操作的情況下優勢，大約 3分鐘后儀器自動關(guān)機。按一下“ON”鍵增產，立即關(guān)機便利性。

3)單位制式轉(zhuǎn)換(公制與英制轉(zhuǎn)換)

在待測狀態(tài)下，按μm/mil可轉(zhuǎn)換其測量單位高產。

4)測量

a)準備好待測試件

b)是否需要校準儀器信息化技術，如果需要，選擇適當?shù)男史椒ㄟM行(參照 4 儀器校準)

c)迅速將測量頭與測試面垂直地接觸并輕壓測量頭定位套良好，隨著一聲鳴響逐步顯現，屏幕顯示測量值，儀器會自動感應(yīng)被測基體：感應(yīng)到是磁性基體時儀器顯示 Fe感應(yīng)到是非磁性金屬時儀器顯示 NFe引領。測量時請始終保持儀器處于垂直狀態(tài)!提起測量頭可進行下次測量;

WH91單鐵基分體涂層測厚儀的校準

為使測量準確自動化裝置，應(yīng)在測量場所對儀器進行校準示範。

1 校準標準片(包括箔和基體)

已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準標準片。簡稱標準片有很大提升空間。

a) 校準箔

對于磁性方法運行好， “箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對于渦流方法可能性更大，通常采用塑料箔統籌推進。 “箔”有利于曲面上的校準，而且比用有覆蓋層的標準片更合適關鍵技術。

b) 有覆蓋層的標準片

采用已知厚度的、均勻的深入、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層作為標準片技術研究。對于磁性方法，覆蓋層是非磁性的開展研究。對于渦流方法姿勢，覆蓋層是非導(dǎo)電的。

2 基體

a)對于磁性方法首要任務，標準片基體金屬的磁性和表面粗糙度綠色化，應(yīng)當與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法發展，標準片基體金屬的電性質(zhì)保持穩定，應(yīng)當與待測試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實標準片的適用性面向，可用標準片的基體金屬與待測試件基體金屬上所測得的讀數(shù)進行比較支撐作用。

b) 如果待測試件的金屬基體厚度沒有超過表一中所規(guī)定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進行校準：

1) 在與待測試件的金屬基體厚度相同的金屬標準片上校準;

2) 用一足夠厚度的建設項目，電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標準片或試件最為突出，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有覆蓋層的試件自動化，不能采用襯墊法提升。

c) 如果待測覆蓋層的曲率已達到不能在平面上校準，則有覆蓋層的標準片的曲率或置于校準箔下的基體金屬的曲率不折不扣，應(yīng)與試樣的曲率相同支撐能力。

3 校準方法

本儀器有三種測量中使用校準方法: 零點校準、二點校準有效保障，還有一種針對測量頭的六點修正校準大數據。本儀器的校準方法是非常簡單的。

3.1 零點校準

a) 在基體上進行一次測量講實踐，屏幕顯示<&times;.&times;&micro;m>數字技術。

b) 按 ZERO 鍵等地，屏顯<0.0>。校準已完成優化上下，可以開始測量了發揮作用。

c) 重復(fù)上述 a、b 步驟可獲得更為精確的零點緊密相關，高測量精度更默契了。零點校準完成后就可進行測量了。注：本儀器提供負數(shù)顯示培訓，為用戶更方便的選擇零點不合理波動。

3.2 二點校準

這一校準法適用于高精度測量及小工件、淬火鋼重要工具、合金鋼積極拓展新的領域。

a) 先校零點(如上述)。

b) 在厚度大致等于預(yù)計的待測覆蓋層厚度的標準片上進行一次測量更優質，屏幕顯示<&times;&times;&times;&micro;m>相對開放。

c) 用▲、▲脫穎而出、鍵修正讀數(shù)拓展應用，使其達到標準值。校準已完成結構，可以開始測量管理。

注：在儀器校準時，單次按將跳動一個數(shù)能力建設，長按不松開橋梁作用，將連續(xù)跳動要修正的值。

4 六點修正校準

在下述情況下求索，改變基本校準是有必要的:

測量頭頂端被磨損讓人糾結、新?lián)Q的測量頭、特殊的用途穩定發展。

在測量中基石之一，如果誤差明顯地超出給定范圍，則應(yīng)對測量頭的特性重新進行校準稱為基本校準增持能力。通過輸入 6 個校準值(1 個零和 5 個厚度值)共同努力，可重新校準測量頭，具體操作方法如下：

a) 在儀器開啟的狀態(tài)下追求卓越，按順序連續(xù)逐漸完善、快速按下以下按鈕，即可進入六點修正校準;

b)先校零值合理需求。在六點修正校準界面的個界面是目前主流，測一下沒有任何涂層的基體充分發揮，然后按 ZERO 鍵，屏幕中的 ADJ 顯示 0.0&micro;m充分發揮，按 進入下一點的校準;

c)校準儀器自帶校準片選擇適用，把 50&micro;m 的放到基體上，測一下 50&micro;m 的厚度設計，測出來的(ADJ)數(shù)與校準片的值不符按? ?調(diào)整到與校準片的值一樣(如50&micro;m 測出來是 54&micro;m 按?調(diào)整到 50&micro;m)業務指導， 然后按 進入下一點校準,接著用相同的校準方法依次校準 100&mu;m、250&mu;m就此掀開、500&mu;m長足發展、1000&mu;m 校準膜片;

d)6 點數(shù)據(jù)調(diào)整完之后，會出現(xiàn)對話框詢問是否保存穩步前行，按 確認保存;

e)若使用其他膜片標準發揮作用，須按厚度增加的順序，一個厚度上可做多次逐步顯現。每個厚度應(yīng)至少是上一個厚度的 1.6 倍以上，理想情況是 2 倍引領。例如: 50自動化裝置、100、250應用前景、500高質量、1000&mu;m。值應(yīng)該接近但低于測量頭的測量范圍;

注意: 每個厚度應(yīng)至少是上一個厚度的 1.6 倍以上激發創作，否則視為基本校準失敗前景，后面一個點必須大于 500&mu;m