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Trimos TR-Scan非接觸微觀形貌(粗糙度)測(cè)量儀

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Trimos TR-Scan系列非接觸表面微觀形貌(粗糙度)測(cè)量儀,系統(tǒng)采用TRIMOS技術(shù)數(shù)字全息三維顯微測(cè)量技術(shù)(DHM)組合運用,廣泛應(yīng)用于高精密微觀表面檢查更讓我明白了。與傳統(tǒng)非接觸測(cè)量技術(shù)相比,測(cè)量速度快積極,對(duì)震動(dòng)不敏感探索,真正的實(shí)現(xiàn)三維形貌納米級(jí)測(cè)量。模塊化的設(shè)計(jì)理念產業,可配置共焦顯微系統(tǒng), 探針測(cè)量系統(tǒng)滿意度,傳感器直接更換,方便快捷可持續,極大的滿足了不同的應(yīng)用范圍主要抓手。即可用于計(jì)量單位和材料科學(xué)研發(fā)實(shí)驗(yàn)室,也廣泛應(yīng)用在工業(yè)制造領(lǐng)域:汽車全過程、航天集成應用、航空探討、表面涂層不負眾望、醫(yī)療產(chǎn)品高效流通、微型電機(jī)系統(tǒng)、半導(dǎo)體等行業(yè)重要意義。

主要特點(diǎn)
 非接觸式測(cè)量原理統籌發展,無損化檢測(cè)粗糙度,微觀形貌
 的數(shù)字全息三維顯微技術(shù)體系,真正實(shí)現(xiàn)3D微觀形貌測(cè)量
 創(chuàng)新的成像原理生產製造,從原理上保證了對(duì)外界振動(dòng)不敏感,Z軸分辨率高
 激光找正工件并自動(dòng)定位攜手共進,測(cè)量速度快 
 模塊化的設(shè)計(jì)概念共同,多種光學(xué)光路原理,直接更換傳感器經過,不需要調(diào)整簡單化,方便快捷
 可非標(biāo)定制相應(yīng)的測(cè)量頭,滿足不同客戶的特殊工件測(cè)量要求
 即可選用數(shù)字全息技術(shù)實(shí)現(xiàn)高精密表面測(cè)量明確了方向,也可選用色譜共焦技術(shù)實(shí)現(xiàn)微觀輪廓測(cè)量或選用接觸式探針實(shí) 現(xiàn)內(nèi)壁粗糙度測(cè)量
 慣用了Trimos“智能用戶界面”的理念系統性,測(cè)量過程全 自動(dòng),操作簡單
 采用專業(yè)的3D形貌分析軟件單產提升,功能強(qiáng)大傳遞,即可實(shí)現(xiàn)2D輪廓測(cè)量,也可進(jìn)行3D形貌分析
 可進(jìn)行編程批量檢測(cè)并自動(dòng)生成分析報(bào)告
 兼容2D標(biāo)準(zhǔn)勞動精神,并已內(nèi)置即將制定的3D標(biāo)準(zhǔn)

軟件特點(diǎn):
TRIMOS NanoWare軟件開展攻關合作,擁有國際的評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)程序來實(shí)時(shí)更新國際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量符合以下標(biāo)準(zhǔn):ISO (4287、4288預下達、11562的有效手段、1101、12085責任、13563等)應用情況,法國標(biāo)準(zhǔn)NF,制造標(biāo)準(zhǔn)CNOMO組建,ASME (B46.1) 和DIN標(biāo)準(zhǔn)表現;三維表面特征數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ISO 25178系列同樣有效。

TRIMOS® NanoWare LT特點(diǎn):
用于二維輪廓粗糙度測(cè)量分析的基本模塊深刻變革。操作簡便結論,包含用于表面檢查,分析形貌質生產力,粗糙度和波紋度測(cè)量的重要功能技術。
 常用參數(shù)要求數(shù)據(jù)Ra推廣開來、Rq、Rt相對較高、線性材料曲率
 過濾方式資源配置、水平、放大
 所有測(cè)量可復(fù)現(xiàn)三維形貌
TRIMOS® NanoWare STT:  
 3軸測(cè)量基本模塊. 包含分析輪廓的所有功能及       符合ISO 25178表面分析   
 3D基本參數(shù)(Sa, Sq, St, Smr, ...)   
 表面圖形仿真   
 距離, 高度及角度測(cè)量   
 成型, 拉平, 視圖等濾波器   
 最終結(jié)果管理   
 測(cè)量點(diǎn)管理/再采集   
 輪廓提取, 體積測(cè)量 
TRIMOS® NanoWare PRO:  
2D及3D表面特征評(píng)估最完整版本相關。此模塊綜合了表面測(cè)量領(lǐng)域15年以來的經(jīng)驗(yàn)大力發展。
 市場上性能的軟件   
 表面圖層研究   
 3D形貌鑒定   
 表面及輪廓統(tǒng)計(jì)分析及研究 

Dantsin-Trimos TR-Scan非接觸微觀形貌(粗糙度)測(cè)量儀

可選測(cè)頭:

Dantsin-Trimos TR-Scan非接觸微觀形貌(粗糙度)測(cè)量儀

應(yīng)用示例:

 

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