當(dāng)探傷面窄小或表面曲率半徑較小時兩個角度入手，用A1型試片不能貼在工件表面的時候建強保護，請使用C1型標(biāo)準(zhǔn)試片，6片/套探索。

概述：

我公司生產(chǎn)的C型標(biāo)準(zhǔn)試片堅持先行，是一種消耗的調(diào)整磁粉探傷靈敏度試片，它分為C1型和C2型滿意度，它可以在任何幾何形狀復(fù)雜的工件上探傷情況較常見，尤其在焊縫的坡口面上及狹小部分，更能顯示它的優(yōu)點(diǎn)主要抓手。

C型標(biāo)準(zhǔn)試片相當(dāng)于A型試片中2#試片的靈敏度等同機製，它的磁化規(guī)范相當(dāng)于8-10D，并可用作鑒定探傷設(shè)備集成應用、磁粉和磁懸液的性能探討，在磁粉探傷過程中，可以避免誤判或漏檢高效流通。C型標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片共創美好，是磁粉探傷工作者的調(diào)試工具。

使用方法：

1作用、使用C1型時行業分類，沿者分割線，剪開為5x10mm的小片預期，使用適當(dāng)?shù)碾p面膠帶敢於監督，或者膠粘劑貼于試樣表面（雙面膠帶厚度要小于100μm）。

2結構、使用連續(xù)法重要的作用，顯示磁痕，即是工件所需靈敏度規模最大。

3穩中求進、使用C2型試片時，剪開C字為正最深厚的底氣，也可不剪開協同控製，以缺口為磁場方向，顯示痕跡品質，即是工件所需靈敏度利用好。

符合標(biāo)準(zhǔn)：

  NB/T47013.4-2015

  GB/T23907