儀器簡介TX2000原理是基于X熒光能譜法講理論，但與X射線能譜形成對比的是傳統(tǒng)能譜采用原級X光束以45角轟擊樣品，而TXRF采用毫弧度的臨界角

儀器簡介

TX2000 原理是基于X熒光能譜法不要畏懼，但與X射線能譜形成對比的是“傳統(tǒng)能譜采用原級X光束以45°角轟擊樣品，而TXRF采用毫弧度的臨界角問題。由于采用此種近于切線方向的入射角逐漸顯現，原級X光束幾乎可以全部被反射，照射在樣品表面后系統穩定性，可以上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發(fā)生拓展基地，同時減小了載體的背景和噪聲”。TX2000 將全反射和傳統(tǒng)的能量色散集成在同一臺儀器上實力增強，采用光學編碼器的步進電機保證了具有精確地角度值體系流動性，軟件控制Mo/W靶可自由切換，采用帕爾貼制冷硅漂移檢測器帶來全新智能。

應用范圍

TX2000 可檢測從Na到Pu所有元素含量實現了超越，可進行痕量或超痕量元素分析（ppt或pg），廣泛的應用在環(huán)境分析（水去完善、灰塵橋梁作用、沉積物、大氣懸浮物）範圍，制藥分析（生物體液和組織樣品中的有害元素）求得平衡，法醫(yī)學（微小證據(jù)分析），化學純度分析（酸空間廣闊、堿至關重要、鹽、溶劑服務品質、水的發生、超純試劑），油品分析（原油表現明顯更佳、輕質油狀態、燃料油），染料分析（墨水指導、油漆廣泛認同、粉末），半導體材料分析（揮發(fā)相分解）流動性，核材料工業(yè)（放射性元素分析）鍛造。

主要特點
■ 單內(nèi)標校正，極大的簡化了定量分析持續創新，無基體影響改善；
■ 對于任何基體的樣品可單獨進行校準和定量分析空白區；
■ 多元素實時分析，可進行痕量和超痕量分析信息化；
■ 不受樣品的類型和不同應用需求影響形勢；
■ 的液體或固體樣品的微量分析，分析所需樣品量腥〉妹黠@成效〖s定管轄；
■ 優(yōu)秀的檢出限水平，元素分析范圍從鈉覆蓋到钚創新的技術；
■ 出色的動態(tài)線性范圍發揮；
■ 無需任何化學前處理，無記憶效應快速增長；
■ 非破壞性分析開放以來，運行成本低廉。