FJ1200環(huán)境級X有望、γ輻射測量儀主要用于環(huán)境輻射本底以及低水平X進一步推進、γ輻射的準(zhǔn)確，快速測量,儀器采用NaI晶體作為探測器方案，具有靈敏度高的特性應用的選擇。儀器攜帶方便，易于操作科普活動。本儀表可用于環(huán)保部門檢測環(huán)境本底情況創新延展，醫(yī)院人員監(jiān)測射線醫(yī)療設(shè)備附近本底，無損檢驗(即射線探傷)裝置是否有輻射泄漏充足，核電站附近居民區(qū)環(huán)境本底測量，門的輻照育種設(shè)備是否有輻射泄漏的積極性。

【技術(shù)指標(biāo)】 

輻射類型：X綠色化發展，γ

探測器：Φ50 × 40 mm，NaI（Tl）晶體

測量范圍：0.01 ~ 200µSv/h

測量精度：± 10%（100 µSv/h不久前，137Cs）

能量響應(yīng)： 40 keV ~ 1.3 MeV

響應(yīng)時間：< 3 s

工作時間：4節(jié)AA1.5V電池

機械尺寸：主機：寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm

探頭：Φ 60 × 254 mm（不含手柄）
 

【應(yīng)用范圍】

環(huán)境監(jiān)測機構(gòu)用上了，醫(yī)院輻射醫(yī)療設(shè)備操作管理人員，射線探傷裝置的操作和管理人員能力建設，經(jīng)常需要使用放射源的劑量刻度站和研究核輻射和輻射儀表的科研人員等關註。