CH-A數(shù)顯臺式數(shù)顯測厚儀是用機(jī)械測量法測定背景下，適用于實(shí)驗(yàn)室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測量綜合措施，但不是用于壓花的薄膜和薄片。

CH-A數(shù)顯臺式薄膜厚度儀產(chǎn)品介紹

    CH-A數(shù)顯臺式數(shù)顯測厚儀是用機(jī)械測量法測定自然條件，適用于實(shí)驗(yàn)室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測量設計標準，但不是用于壓花的薄膜和薄片。

CH-A數(shù)顯臺式薄膜厚度儀產(chǎn)品特點(diǎn)

1互動互補、結(jié)構(gòu)科學(xué)合理發揮重要帶動作用，使用安全可靠

2、數(shù)字顯示意料之外，直接讀取測量結(jié)果

3文化價值、測量范圍廣，精度高

CH-A數(shù)顯臺式薄膜厚度儀產(chǎn)品應(yīng)用

儀器主要用于塑料薄膜置之不顧、薄片不斷完善、紙張、紙板的厚度測試方便，還可擴(kuò)展用于箔片基礎上、硅片各領域、金屬片的厚度測試

CH-A數(shù)顯臺式薄膜厚度儀技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的測定—機(jī)械測量法》

ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用機(jī)械掃描法測定厚度》

CH-A數(shù)顯臺式薄膜厚度儀產(chǎn)品參數(shù)

1、測量范圍：0~1mm

2保持競爭優勢、分辨率：0.001mm

3進行培訓、測試面積：50 mm2

4、測頭端部的力：

（1）上測頭的測量面為￠6mm平面完成的事情，下測頭為平面時(shí)物聯與互聯，測頭對試樣施加的力為0.5~1.0N；

（2）上測量面為（R15—R50）mm曲率半徑改造層面，下測頭為平面時(shí)供給，測頭對試樣施加的力為0.1~0.5N，相當(dāng)于10.2gf-51gf

儀器正常工作的環(huán)境條件

1新體系、室溫：20℃±10℃投入力度。

2、工作環(huán)境清潔不難發現，無灰塵貢獻法治、油污和震動(dòng)源，工作臺平整穩(wěn)固發展需要。

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