掃描電子顯微鏡（ＳＥＭ）發展邏輯。與光學顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光，用電磁透鏡代替了光學透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像有所提升。

    電子顯微鏡（electron microscope）是利用電子與物質作用所產(chǎn)生之訊號來監(jiān)定微區(qū)域晶體結構聽得進，微細組織，化學成份先進水平，化學鍵結和電子分布情況的電子光學裝置更多可能性。常用的有透射電子顯微鏡（ＴＥＭ）和掃描電子顯微鏡（ＳＥＭ）。與光學顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光足夠的實力，用電磁透鏡代替了光學透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像緊迫性。

    多功能電子顯微鏡將常見的ＴＥＭ、ＳＥＭ結構重塑、ＳＴＥＭ聽得懂、ＥＤ四種模式結合在一起，用戶可根據(jù)樣品分析需要進行隨意切換。

產(chǎn)品簡介：加拿大小型多功能電鏡LVEM5

功能特點：

         Delong America公司推出的新一代電子顯微鏡LVEM5全方位，采用革命性新技術高效節能，尺寸較傳統(tǒng)電鏡縮小了90%，是世界上zui小的透射電鏡大局。同時集成了掃描電鏡功能新創新即將到來，是世界上*臺多功能電子顯微鏡。

１有序推進、體積與光學顯微鏡相仿設施，價格便宜，操作簡便

２堅定不移、透射電鏡（TEM）組合運用、電子衍射（ED）、掃描電鏡（SEM）迎難而上、掃描透射電鏡（STEM）四種成像模式

３積極、場發(fā)射電子槍：高亮度、高對比度

４堅持先行、5kV低加速電壓產業，有效提高輕元素樣品成像質量觀測生物樣品無需染色

５、真空封鎖技術情況較常見，更換樣品僅需3分鐘

６可持續、無需冷卻水，無需專業(yè)實驗室機製，維護成本極低