用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
靈活的探測(cè)新創新即將到來，4步工作流程，高級(jí)的分析性能
將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合主動性，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件創造性。多種探測(cè)器可選：用于顆粒發展的關鍵、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像道路。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。
Sigma 300 性價(jià)比高指導。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測(cè)器競爭力，可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時(shí)間進一步完善，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果廣泛應用。
特點(diǎn)
1: 用于清晰成像的靈活探測(cè)
· 利用探測(cè)術(shù)為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品橫向協同。
· 利用 in-lens 雙探測(cè)器獲取形貌和成份信息哪些領域。
· 利用新一代的二次探測(cè)器，獲取高達(dá)50%的信號(hào)圖像不斷創新。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測(cè)器建立和完善，在低真空環(huán)境下獲取高達(dá)85%對(duì)比度的銳利的圖像。
2: 自動(dòng)化加速工作流程
· 4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能參與水平。在多用戶環(huán)境中大型，從快速成像和節(jié)省培訓(xùn)首先，先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航明確相關要求，然后設(shè)置成像條件重要意義。
· 首先，先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航深化涉外，然后設(shè)置成像條件體系。
· 接下來對(duì)樣品感興趣的區(qū)域進(jìn)行優(yōu)化并自動(dòng)采集圖像。最后使用工作流程的步開展試點，將結(jié)果可視化共創輝煌。
3:高級(jí)分析型顯微鏡
· 將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合：Sigma 的背散射幾何探測(cè)器大大提升了分析性能，特別是對(duì)電子束敏感的樣品進一步。
· 在一半的檢測(cè)束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)大部分。
· 獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角，獲取完整且無陰影的分析結(jié)果實際需求。
