XK-XPL-3230透反射偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質進行研究鑒定的儀器,可供廣大用戶進行單偏光觀察信息化，正交偏光觀察形勢，錐光觀察。廣泛應用于地質取得明顯成效、化工約定管轄、醫(yī)療數據、藥品等領域的研究與檢驗，也可進行液態(tài)高分子材料發揮，生物聚合物及液晶材料的晶相顯著、粒徑觀察，是科研機構與高等院校進行研究與教學的理想儀器開放以來。

性能特點 

▲  采用無限遠光學系統(tǒng)及模塊化功能設計今年。 

▲  配置無窮遠無應力長工作距離平場物鏡。 

▲  廣角平場目鏡：視場直徑Ф22mm結構不合理。 

▲  粗微動同軸調焦機構，粗動松緊可調逐步改善，帶限位鎖緊裝置意見征詢，微動格值:2μm。  

▲  偏光觀察裝置可移入或移出光路大大提高，起偏器與檢偏器均可360°旋轉等多個領域。 

▲  旋轉式載物臺，360°等分刻度,游標格值6'產品和服務，中心可調應用擴展，帶鎖緊裝置，工作臺垂直有效行程可達 30mm增多。 

▲  寬電壓電源(85-265V 50/60Hz). 6V30W鹵素燈照明活動上，亮度可調。 

▲  三目鏡筒可自由切換目視觀察與顯微攝影進一步推進，攝影時可99%通光導向作用，適合低照度顯微圖像拍攝。