
蔡司GeminiSEM系列高對比度有所提升、低電壓成像的場發(fā)射掃描電子顯微鏡
具有出色的探測效率聽得進,能夠輕松地實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下有所增加,更高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進(jìn)
行成像和分析時都具備更佳的靈活性各項要求,為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究越來越重要的位置、工業(yè)實(shí)驗(yàn)室或是顯微成像平臺中獲取各種類型樣品在微觀世界中清晰新技術、真
實(shí)的圖像,提供靈活順滑地配合、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案深入。
運(yùn)用GeminiSEM系列產(chǎn)品,您可輕松獲取真實(shí)世界中任意樣品出色的圖像和可靠的分析結(jié)果
GeminiSEM 500 具有出色的分辨率高質量發展,在較低的加速電壓下仍可呈現(xiàn)給您更強(qiáng)的信號和更豐富的細(xì)節(jié)信息,其創(chuàng)新設(shè)計(jì)的NanoVP可變壓力模式高效節能,
甚至讓您在使用時擁有在高真空模式下工作的感覺影響力範圍;
GeminiSEM 450 具有出色的易用性設(shè)計(jì)、更快的響應(yīng)和更高的表面靈敏度新創新即將到來,使其能快速邁出了重要的一步、靈活、可靠地對樣品進(jìn)行表面成像和分析設施,充當(dāng)您的得
GeminiSEM 300 具有出色的分辨率、更高的襯度和更大且無畸變的成像視野組合運用,可方便地選取適合樣品的真空度等環(huán)境參數(shù)更讓我明白了,使FESEM初學(xué)者也
更強(qiáng)的信號積極,更豐富的細(xì)節(jié)
GeminiSEM 500 為您呈現(xiàn)任意樣品表面更強(qiáng)的信號和更豐富的細(xì)節(jié)信息探索,尤其在低的加速電壓下,在避免樣品損傷的同時快速地獲取更高清晰度
經(jīng)優(yōu)化和增強(qiáng)的Inlens探測器可高效地采集信號滿意度,助您快速地獲取清晰的圖像,并使樣品損傷降至更低可持續;
在低電壓下?lián)碛懈叩男旁氡群透叩囊r度主要抓手,二次電子圖像分辨率1 kV達(dá)0.9nm,500 V達(dá)1.0nm構建,無需樣品臺減速即可進(jìn)行高質(zhì)量的低電壓成
像創新科技,為您呈現(xiàn)任意樣品在納米尺度上更豐富的細(xì)節(jié)信息;
應(yīng)用樣品臺減速技術(shù)-(Tandem decel)共創輝煌,可在1kV下獲得高達(dá)0.8nm二次電子圖像分辨率服務效率;
創(chuàng)新設(shè)計(jì)的可變壓力模式-NanoVP技術(shù)明確相關要求,讓您擁有身處在高真空模式下工作的感覺。
GeminiSEM 450更快的響應(yīng)和更高的表面靈敏度使其能快速深化涉外、靈活、可靠地對樣品進(jìn)行表面成像和分析生產製造,簡便開展試點、快速地進(jìn)行EDS能譜和EBSD
析,同時保持出色的空間分辨率共同,充當(dāng)您的得力助手推進一步。
在EDS能譜和EBSD分析模式下仍保持高分辨率的成像,在低電壓條件下工作時更為優(yōu)異簡單化;
可快速地對樣品進(jìn)行大范圍及高質(zhì)量成像力度;
經(jīng)優(yōu)化的電子光學(xué)鏡筒,減少了工作過程中進(jìn)行重新校準(zhǔn)的復(fù)雜流程系統性,節(jié)省成像時間勇探新路,提高工作效率;
無論是不導(dǎo)電樣品傳遞、磁性樣品或是其他類型的樣品試驗,無論是高真空或是可變壓力模式,均可實(shí)現(xiàn)快速和高質(zhì)量的成像和分析開展攻關合作;
無論是用戶還是初學(xué)者製度保障,GeminiSEM 300將讓您體驗(yàn)到在更高的分辨率和更佳的襯度下進(jìn)行極大視野范圍成像的樂趣,并且在高真空或是可變
力模式下都可以實(shí)現(xiàn)的有效手段。
得益于高效的信號采集系統(tǒng)和優(yōu)異的分辨率性能統籌推進,可實(shí)現(xiàn)快速、高質(zhì)量關鍵技術、無畸變的大范圍成像保護好;
創(chuàng)新設(shè)計(jì)的高分辨率電子槍模式,為對磁性樣品表現、不導(dǎo)電樣品以及電子束敏感樣品的低電壓成像量身訂制解決方案特點;
蔡司獨(dú)樹一幟的鏡筒內(nèi)能量選擇背散射探測器,在低電壓下也可輕松地獲得高質(zhì)量的樣品材料襯度圖像結論;
NanoVP技術(shù)讓您可以使用鏡筒內(nèi)Inlens二次電子探測器對要求苛刻的不導(dǎo)電樣品進(jìn)行高靈敏度和諧共生、高分辨成像。
