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自感應探針原子力顯微鏡(兼容型)

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具體成交價以合同協(xié)議為準

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產品型號:WinSPM B? 多功能原子力顯微鏡? 采用壓電自感應探針? 兼容激光檢測型探針? 技術、融合

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產品簡介:

兼容自感應探針和激光檢測探針的原子力顯微鏡(AFM)全會精神,技術系統穩定性、融合〖姓故??煞謩e單獨實現形貌成像分析實力增強、譜曲線測量等功能,廣泛應用于教育和研究領域探索創新。


儀器特點

  • 兼容基于石英音叉的壓電自感應探針(如Akiyama探針)和激光檢測探針重要工具。

  • 采用自感應探針可實現頻率調制模式的形貌成像和力梯度-距離曲線測量分析積極拓展新的領域。

  • 采用激光檢測探針可實現接觸和輕敲模式的形貌成像和各種譜測量分析功能。

  • 采用高精度嵌入式測控系統(tǒng)更優質,主機隔音抗震設計相對開放,抗干擾能力強。

  • 可擴展納米加工脫穎而出、掃描隧道顯微鏡拓展應用、靜電力顯微鏡等掃描探針顯微鏡功能。

  • 可通過選配模塊和擴展接口增強系統(tǒng)功能結構。



主要技術參數

  • 一鍵式快速自動進樣管理,行程23mm,最小步距50nm能力建設。

  • 手動調節(jié)樣品檢測位置模樣,調節(jié)范圍±10.0mm。

  • 樣品尺寸的直徑20mm服務,厚度20mm很重要。

  • 標配管型掃描器,掃描范圍約為20μm×20μm×5μm覆蓋。

  • 樣品逐行掃描成像廣泛認同,掃描成像速率0.1-30行/秒。

  • 一次掃描多幅圖像流動性,圖像分辨高達1024×1024物理象素鍛造。

  • 自感應探針采用頻率調制模式,數字化PID反饋控制的響應時間為10μs持續創新。

  • 嵌入式測控系統(tǒng)采用主頻為450MHz的雙核處理器(ARM + DSP)改善,內置數模混合結構的鎖相放大器協調機製,與上位機連接采用以太網TCP/IP通訊協(xié)議信息化。



標準配置:

  • 主控制器

  • 主機底座及隔音罩

  • 主機探頭及探針架(A型和L型)

  • 手動樣品調節(jié)臺(調節(jié)范圍±10.0mm)

  • 管型掃描器(掃描范圍20μm)

  • 計算機及專用測控軟件

  • 儀器附件


A型探針架

(上:正面;下:背面)


L型探針架

(上:正面高質量;下:背面)



選配模塊:

  • 掃描隧道顯微鏡(STM)模塊充分發揮,包括:掃描隧道顯微鏡的硬件與軟件、STM探針架 

  • 納米加工模塊管理,包括:圖形化納米加工設計、機械刻蝕、矢量掃描等功能

  • 輔助觀察光學顯微鏡系統(tǒng):物鏡倍數:0.7X~4.5X改進措施;總放大倍數:42-266X連續(xù)可調(14”有效顯示面積)就此掀開;工作距離:115mm

  • 管型掃描器模塊:掃描范圍有8μm、20/30μm和100μm共3種規(guī)格

  • 平面閉環(huán)掃描器:掃描范圍為30μm×30μm×9μm

  • 導電原子力顯微鏡(C-AFM)

  • 靜電力顯微鏡(EFM)

  • 磁力顯微鏡(MFM)



應用領域及實驗

  • 實驗一:原子力顯微鏡基本原理與操作今年,典型的應用領域為納米科技穩步前行、教育培訓結構不合理,包括:納米表征研究、物理演示實驗逐步改善,特別是2種探針成像技術的對比性實驗意見征詢。

  • 實驗二:基于自感應探針原子力顯微鏡的形貌成像和譜測量分析,典型實驗內容包括:軟磁盤大大提高、光盤的必然要求、光柵等常規(guī)樣品的、頻率調制模式的形貌成像分析取得了一定進展、納米臺階的測量和力梯度譜曲線的測量與分析完善好。

  • 實驗三:基于激光檢測探針原子力顯微鏡的形貌成像和譜測量分析,典型實驗內容包括:軟磁盤積極參與、光盤問題分析、光柵等常規(guī)樣品接觸模式和輕敲模式的形貌成像分析、各種譜曲線的測量與分析進一步推進。

  • 實驗四:掃描隧道顯微鏡(STM)導向作用,包括形貌成像和隧道譜。(需增配STM模塊)

  • 實驗五:納米加工實驗示範推廣,如圖形化納米刻蝕實驗堅持好。(需增配納米加工模塊) 

  • 實驗六:其它基于特殊針尖或實驗方法的原子力顯微鏡的應用領域有效性,包括:導電原子力顯微鏡(C-AFM)合理需求、靜電力顯微鏡(EFM)實現、磁力顯微鏡(MFM)等。(需增配或定制相應的功能模塊)等特點。

儀器整體照片

光柵形貌圖(20×20μm)

磁盤形貌圖(3×3μm)



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