卡片扭曲彎曲測(cè)試設(shè)備產(chǎn)品用途：用于檢測(cè)磁條卡規模最大，IC芯片卡，集成電路卡統籌，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試最深厚的底氣。
工作原理：是將15張卡片分別將五張卡片放置于長(zhǎng)邊的五個(gè)工位的卡槽上，再將五張卡放置于短邊的五個(gè)工位的卡槽上振奮起來，將五張卡片放置于測(cè)彎扭位置的五個(gè)工位的卡槽上品質，再機(jī)器的觸摸屏上設(shè)定好試驗(yàn)次數(shù)，啟動(dòng)運(yùn)行按扭開(kāi)始實(shí)驗(yàn)勞動精神，達(dá)到試驗(yàn)次數(shù)自動(dòng)停機(jī)開展攻關合作，試驗(yàn)結(jié)束后，檢查卡是否有可測(cè)試的功能預下達。 本機(jī)新型結(jié)構(gòu)合理簡(jiǎn)單的有效手段，設(shè)計(jì)巧妙，卡片的放置和拾取操作方便方案，扭曲關鍵技術、彎曲角度可調(diào)節(jié)，角度調(diào)整準(zhǔn)確深入，測(cè)量結(jié)果可靠技術研究，能夠有效提高生產(chǎn)效率。
本產(chǎn)品適用于軌道交通卡開展研究、醫(yī)療保險(xiǎn)卡姿勢、智能卡相互融合、地鐵卡、通訊卡綠色化、公交卡不同需求、會(huì)員卡等系列的反復(fù)彎曲扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)，液晶數(shù)顯IC卡彎扭試驗(yàn)機(jī)主要用于大專(zhuān)院校拓展、科研單位創造更多、質(zhì)量檢測(cè)中心、企業(yè)單位品質(zhì)檢測(cè)部門(mén)不斷進步、實(shí)驗(yàn)室等的物理力學(xué)性能工藝技術、工藝性能的測(cè)試和分板研究，深受廣大用戶青睞規模。
本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1近年來，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); 符合以上標(biāo)準(zhǔn)發展目標奮鬥，自主設(shè)計(jì)按標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行雙向扭轉(zhuǎn)測(cè)試技術先進。IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)是采用36W直流調(diào)速電機(jī)作為驅(qū)動(dòng)裝置，通過(guò)調(diào)節(jié)調(diào)速器的電流調(diào)節(jié)旋鈕來(lái)改變驅(qū)動(dòng)電機(jī)的驅(qū)動(dòng)電流延伸，從而改變電機(jī)的轉(zhuǎn)速使我們的30次/min的測(cè)試速度得以調(diào)節(jié)認為。
滿足標(biāo)準(zhǔn)：該IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)主要用于測(cè)試IC卡的彎曲、扭矩試驗(yàn)大數據，符合國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1《識(shí)別卡 帶觸點(diǎn)的集成電路卡 第1部分：物理特性》長效機製，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006《識(shí)別卡 測(cè)試方法 第1部分：一般特性測(cè)試》及ISO10373和ISO7816-1998等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
卡片扭曲彎曲測(cè)試設(shè)備技術(shù)參數(shù)：
1.測(cè)試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
2.測(cè)試周期：1~9999次
3.扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm
4.正反向各15°數字技術，總扭曲角度30°
5.長(zhǎng)邊位移量為20mm（+0.00mm,-1 mm）
6.長(zhǎng)邊位移量為2mm±0.50mm奮戰不懈，
7.短邊位移量為10mm（+0.00mm,-1 mm）
8.長(zhǎng)邊位移量為1mm±0.50mm，
9.夾具安裝尺寸按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行措施。
10.外形尺寸：670×380×220mm
11.長(zhǎng)邊彎曲工位數(shù)：5工位
12.短邊彎曲工位數(shù)：5工位
13.雙向扭轉(zhuǎn)工位數(shù)：5工位
14.儀器重量：約70kg
