X射線衍射技術(shù)/發(fā)展史

X射線衍射技術(shù)/集成技術(shù)

BTX PROFILER的XRD技術(shù)來自于美國宇航局NASA埃姆斯實(shí)驗(yàn)室效果較好，該技術(shù)曾被美國宇航局火星計(jì)劃"好奇號(hào)"重要的意義、"漫游者"使用過；XRF技術(shù)則是奧林巴斯ED-XRF技術(shù)的結(jié)晶等多個領域，兩大技術(shù)結(jié)合再獲，可以提供材料的元素、成分應用擴展、結(jié)構(gòu)等全方面的信息體驗區，可減少實(shí)驗(yàn)成本，節(jié)約時(shí)間和空間活動上。BTX PROFILER 采用兩套獨(dú)立的X射線源和探測(cè)器有望，以保證快速獲取全面優(yōu)質(zhì)的數(shù)據(jù)信息，XRD部分使用CCD二維面探測(cè)

器導向作用，該探測(cè)器可以獲取整個(gè)德拜環(huán)的衍射數(shù)據(jù)信息方案，XRF部分則采用SDD探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)更低的檢測(cè)下限和更高的靈敏度十大行動。

技術(shù)規(guī)格

XRD和XRF組合技術(shù)

①XRD微聚焦X射線管

②XRD X射線束  

③XRD準(zhǔn)直器  ④XRD樣品  

⑤CCD探測(cè)器  ⑥XRF X射線管  

⑦濾光輪    ⑧XRF X射線束

⑨XRF樣品  ⑩ XRF SDD探測(cè)器

用于化合物分析的二維XRD

XRD采用透射衍射幾何技術(shù)左右，使用能量敏、

位敏的二維CCD面探測(cè)器綜合措施，實(shí)現(xiàn)了儀器的小

型化和更為緊湊的結(jié)構(gòu)

1可靠保障、探測(cè)器收集整個(gè)德拜環(huán)的信息而非傳統(tǒng)

臺(tái)式機(jī)只能收集德拜環(huán)一個(gè)截面的信息自然條件，增大

了數(shù)據(jù)

2、檢測(cè)快速開展，全譜顯示而非步進(jìn)掃描互動互補，普通樣

品 分鐘即可

無測(cè)角儀的XRD

使用樣品振動(dòng)系統(tǒng)(樣品在檢測(cè)過程中以6000hz的頻率隨機(jī)振動(dòng))，替代傳統(tǒng)臺(tái)式XRD測(cè)角儀可以實(shí)現(xiàn)以下功能：

1意向、樣品制備簡(jiǎn)單：樣品無需制片意料之外、壓片、刮片開展面對面，只需得到<150um的顆粒即可系統； 2、實(shí)現(xiàn)樣品顆粒的角度的檢測(cè)

3進一步提升、消除檢測(cè)過程中晶體的擇優(yōu)取向空間廣闊； 4、增加了樣品檢測(cè)量

用于全元素分析的能量色散型（ED）XRF

1系統、大功率射線管增強，配以超大面積SDD探測(cè)器；2交流等、真正實(shí)現(xiàn)了在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行快速更加廣闊，準(zhǔn)確的檢測(cè)；3提高、直接顯示元素的ppm含量與百分比含量可以使用；4、全元素分析紮實，從鎂（Mg）到鈾（U）之間的所有元素效高化；5、7個(gè)濾光片設(shè)置投入力度，可根據(jù)元素自動(dòng)選擇濾光片創造；6、可選配氦氣裝置進(jìn)一步提高輕質(zhì)元素的檢測(cè)效果

XRD-XRF聯(lián)用儀/軟件

XRD

XRD使用xpowder分析軟件貢獻法治，該軟件可提供包括背景扣除設備製造、平滑處理、Ka2峰剝離攻堅克難、多譜圖疊加等功能管理，可以進(jìn)行物相定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析、結(jié)構(gòu)精修處理雙向互動、結(jié)晶度分析新型儲能、晶粒度分析等功能。

物相定量分析可以使用RIR值及里特維德全譜擬合新品技，實(shí)現(xiàn)復(fù)雜混合物的準(zhǔn)確定量範圍，尤其適合于礦物的全巖成分分析。

XRF

XRF數(shù)據(jù)處理軟件提供有關(guān)材料的定性紮實做、定量信息空間廣闊，其中包含光譜視圖和元素峰值辨別。定量分析使用基本參數(shù)（FP）法提供深度撮合服務。在實(shí)際應(yīng)用中服務品質，可以使用一系列用戶的認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)對(duì)這些基本參數(shù)校準(zhǔn)進(jìn)行優(yōu)化（經(jīng)驗(yàn)分析）。使用離線“方法建立器”軟件包可以優(yōu)化校準(zhǔn)曲線組成部分， 自行定制分析程序影響，并將分析程序下載到分析儀器。

軟件還提供了其它一些用于分析的性能互動講，如：查看元素范圍穩定性、

可選峰值識(shí)別、顯示含量結(jié)果過程中，以及樣件組的頻譜覆蓋去突破。

XRD-XRF聯(lián)用儀/應(yīng)用領(lǐng)域

BTX PROFILER集成二維XRD技術(shù)及ED-XRF技術(shù)，可對(duì)材料實(shí)現(xiàn)全面的分析檢測(cè)達到，提供材料的元素組成智能設備、化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)等方面的信息蓬勃發展。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)礦產(chǎn)特點、石油地質(zhì)錄井、地球化學(xué)重要性、制藥又進了一步、催化劑、法醫(yī)服務機製、材料等工業(yè)及科研領(lǐng)域貢獻力量。

礦物鑒定  XRD錄井鉆井 催化劑研發(fā) 選礦效率

礦石品位  能源勘探    腐蝕物鑒定與防腐

石油地質(zhì)  藥物多晶型  材料成分及結(jié)構(gòu)

XRF錄井鉆井  真假藥識(shí)別  教育與科研

XRD-XRF聯(lián)用儀/配置

BTX PROFILER旋轉(zhuǎn)多樣品系統(tǒng)

1、儀器配置帶4個(gè)樣品的自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)

2大幅拓展、可選配帶20個(gè)樣品的自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)

3發行速度、可按程序設(shè)定對(duì)20個(gè)樣品依次檢測(cè)分析

4、適用于檢測(cè)樣品量較大與時俱進、分析時(shí)間較長(zhǎng)性能、無需操作人員在場(chǎng)的情形

5、可選配氦氣凈化裝置綜合運用，有利于Mg供給、Al、Si、P進行探討、S等輕元素的檢測(cè)落到實處。