產(chǎn)品詳情：
臺式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級。
我們以“更高畫質(zhì)服務機製、更易于使用貢獻力量、更易于觀察”為理念，開發(fā)出TM4000系列薄弱點。在此基礎(chǔ)上覆蓋範圍，我們又推出功能更為多樣的TM4000Ⅱ系列。
為您提供全新的觀察和分析應(yīng)用積極性。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
觀察圖像3分鐘奮勇向前。可迅速獲得所需數(shù)據(jù)實施體系，并制作報(bào)告組建。
|| 觀察與分析的靈活性
自動(dòng)獲取各類數(shù)據(jù)⌒Ч^好？焖偾袚Q重要的意義！
可快速獲得元素分布圖*2
*1 TM4000PlusⅡ的功能。
*2 選配
|| 使用Camera Navi*的話等多個領域，就是如此簡單
Camera Navi圖像讓您輕松找到視野再獲，分布圖(MAP)功能全程支持您的觀察
* 選配：Camera Navi系統(tǒng)
|| 操作簡單且快捷
觀察圖像只需 3 分鐘。
可快速觀察圖像應用擴展，并導(dǎo)出測試報(bào)告體驗區。
|| Report Creator可讓您輕松制作報(bào)告
只需選擇圖像和模板，就可以制作Microsoft Word活動上、Excel有望、PowerPoint格式的報(bào)告
|| 即便是絕緣物樣品，也無需預(yù)處理安全鏈，就可直接進(jìn)行觀察顯示。
“靜電減輕模式”可抑制靜電現(xiàn)象
對于容易產(chǎn)生靜電的樣品創新為先，可使用“靜電減輕模式”，在抑制靜電的狀態(tài)下進(jìn)行觀察科普活動。
只需用鼠標(biāo)在軟件上點(diǎn)擊即可切換到“靜電減輕模式”創新延展。
|| 可在低真空的條件下進(jìn)行多種觀察
對于容易產(chǎn)生靜電的粉末或含水等樣品，可結(jié)合其目的進(jìn)行觀察充足。
|| 可在低真空的條件下進(jìn)行二次電子像（表面形狀）觀察進展情況。
無需預(yù)處理，也可以觀察絕緣物和含水綠色化發展、含油樣品的表面
不僅是觀察傳統(tǒng)的導(dǎo)電性樣品，還可以在無預(yù)處理的條件下觀察絕緣物和含水不久前、含油樣品用上了。可快速進(jìn)行二次電子像與背散射電子像之間的切換能力建設。
|| 高感度低真空二次電子檢測器
采用高感度低真空二次電子檢測器(UVD)關註。通過檢測由于電子線與殘留氣體分子之間的碰撞而產(chǎn)生的光，可以觀察帶有二次電子信息的圖像無障礙。此外連日來，通過控制該檢測器，來檢測電子照射所產(chǎn)生的光認為，可以獲得CL信息（UVD-CL：帶有CL信息的圖像）系統。
|| 可支持加速電壓20 kV
TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速電壓20 kV。
憑借EDS分析（選配）重要意義，可進(jìn)行更高計(jì)數(shù)率解析交流等。
|| 通過加速電壓20 kV，實(shí)現(xiàn)EDS元素分布圖的高S/N化
|| Multi Zigzag（選配）
可實(shí)現(xiàn)在廣域范圍內(nèi)進(jìn)行SEM觀察規劃。
搭配自動(dòng)馬達(dá)臺提高，可實(shí)現(xiàn)低倍率，高精度進入當下，大范圍的觀察分析紮實。
|| EM 樣品臺（選配）
|| 可輕松觀察 STEM 圖像
與全新開發(fā)的 STEM 樣品臺和高靈敏度低真空二次電子檢測器(UVD)配合使用，可輕松觀察小倍率 STEM 圖像新體系。
可輕松觀察薄膜樣品和生物樣品.
|| 產(chǎn)品規(guī)格：
