第五代飛納電鏡能譜一體機PhenomProX是集成化成像分析系統(tǒng)實際需求，分辨率提升20%，進一步增加應用范圍優勢，更加適用于對電子束敏感的樣品

第五代飛納電鏡能譜一體機 Phenom ProX 是集成化成像分析系統(tǒng)善謀新篇，分辨率提升 20%，進一步增加應用范圍便利性，更加適用于對電子束敏感的樣品方法。借助該系統(tǒng)，既可觀察樣品的表面形貌提供有力支撐，又可分析其元素組分發揮作用。

研究樣品時良好，得到樣品的形貌信息只是解決了一半問題。獲得樣品的元素組分信息往往也是非常重要的銘記囑托。借助全面集成引領、特殊設計的能譜探測器，飛納電鏡能譜一體機 Phenom ProX 可以完善解決上述所有問題示範。

能譜儀是一種基于樣品被電子束激發(fā)而產生 X 射線的分析儀器應用前景。Phenom 的能譜儀無論軟件、硬件都是集成設計在飛納電鏡能譜一體機 Phenom ProX 系統(tǒng)中運行好。

Element Identification (EID) 軟件可以使用戶實現多點分析首次，檢測樣品的元素組分。此外部署安排，該軟件還可以擴展到元素分析線面掃（mapping）功能搖籃。分步操作界面可以幫助用戶更方便地收集、導出分析數據了解情況。